[发明专利]双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置

说明书

本发明公开了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置，涉及射频微波信号测量技术领域，可以提高非线性矢量网络分析仪对复杂频谱成分被测对象的测量能力。所述方法包括：获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号；测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。

技术领域

本发明涉及射频微波信号测量技术领域，特别是涉及一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置。

背景技术

非线性矢量网络分析仪(Nonlinear Vector Network Analyzer,NVNA)是一款针对射频微波器件非线性行为进行测量表征的仪器装置。其通过引入一个多频率成分的相位参考信号，利用被测信号与这个相位参考信号逐频点的相位差测量，来实现对复杂被测信号的相位谱测量。

目前，非线性矢量网络分析仪的相位谱测量方法均采用“单”相位参考，即只有一个相位参考信号工作，其频谱成分需要同时覆盖所有被测频点。例如，如图1所示，采用“单”相位参考信号的NVNA进行相位谱测量，其中4个被测信号为a₁ a₂ b₁ b₂，相位参考信号为R。

然而，当被测信号的频谱成分较多、较分散时，现有的信号合成手段难以获得满足测试条件的相位参考信号，无法保证非线性矢量网络分析仪的正常工作，不能实现复杂被测对象的有效测量。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法及装置，主要目的在于解决目前只采用一个相位参考信号进行非线性矢量网络分析仪的相位谱测量，会影响非线性矢量网络分析仪的适用范围和对复杂被测对象测量有效性的问题。

依据本发明一个方面，提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量方法，该方法包括：

获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；

生成频谱成分覆盖所述被测子频段的第一相位参考信号；

测量所述第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；

根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；

改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。

依据本发明另一个方面，提供了一种双相位参考的非线性矢量网络分析仪测量装置，该装置包括：

获取单元，用于获取被测频段划分的被测子频段和与所述被测子频段对应的交叠频点；

生成单元，用于生成频谱成分覆盖所述获取单元获取的被测子频段的第一相位参考信号；

测量单元，用于测量所述生成单元生成的第一相位参考信号与预先生成的第二相位参考信号在所述交叠频点上的第一相位差；

所述测量单元，还用于根据所述第一相位差，测量所述被测信号与所述第一相位参考信号在所述被测子频段内被测频点上的第二相位差的集合；

合并单元，用于改变所述第一相位参考信号所覆盖的被测子频段，完成全部被测子频段的测量，将结果合并为非线性矢量网络分析仪的相位谱测量结果。