[发明专利]一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置

权利要求书

1.一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

根据标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，确定仿射变换矩阵；

根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

2.根据权利要求1所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，确定仿射变换矩阵的步骤包括：

获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；

根据匹配后的标定孔圆心在所述缩放正拍标定图像和所述缩放斜拍标定图像中的坐标，以所述缩放正拍标定图像为基准，计算所述缩放正拍标定图像和缩放斜拍标定图像的变换矩阵，得到仿射变换矩阵。

3.根据权利要求1所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素包括：

所述第一集合的元素和所述第二集合的元素按集合内元素的位置关系匹配。

4.根据权利要求1所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷的步骤包括：

如果所述视差集合内元素小于或等于第一预设距离，确定准缺陷为真实缺陷；

如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘。

5.根据权利要求4所述的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，其特征在于，如果所述视差集合内元素大于第一预设距离，确定准缺陷为灰尘的步骤包括：

如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标远离斜拍相机，则灰尘为下表面灰尘；

如果第一集合内的元素的横坐标较第二集合内的元素的横坐标靠近斜拍相机，则灰尘为上表面灰尘。

6.一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的装置，其特征在于，所述装置包括：

获取单元，用于获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像，其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放单元，用于缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定单元，用于根据标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，确定仿射变换矩阵；

仿射变换单元，用于根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

第一提取单元，用于提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

第二提取单元，用于提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配单元，用于匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

计算单元，用于逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较单元，用于比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。