[发明专利]一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置

说明书

本申请公开一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，方法包括：获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像；缩放待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；确定仿射变换矩阵；根据仿射变换矩阵对缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；分别提取缩放正拍图像和配准图像的准缺陷坐标，保存为第一集合和第二集合；逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；比较视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。本申请实施例中，通过获取待检测正拍图像和待检测斜拍图像，得到各准缺陷的视差，通过与距离阈值对比，得到是否为真实缺陷。

技术领域

本申请涉及液晶显示屏检测技术领域，特别涉及一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置。

背景技术

液晶显示屏，英文简称为LCD，是属于平面显示器的一种，用于电视机及计算机的屏幕显示。液晶显示屏具有耗电量低、体积小、辐射低的优点，深受使用者的喜爱。液晶显示屏由上至下依次由TP玻璃、上偏光片、第一玻璃基板、液晶层、第二玻璃基板、下偏光片和背光模块组成。而在液晶显示屏中的液晶层经常会出现缺陷，造成使用者在使用液晶显示屏时，出现播放画面有坏点的现象，影响画面质量，导致使用者的观感不佳。

现有技术中，液晶显示屏的检测方法是使用工业相机，在对焦清晰的前提下，通过工业相机拍摄液晶显示屏点亮时的显示状态，将显示状态转化为图像，然后利用视觉处理系统对图像进行处理，最后得到此液晶显示屏是否为良品或者不良的结果。

然而，由于受到外界环境干扰，不可避免的在液晶显示屏中引入灰尘等其他杂质，工业相机在常规直视拍摄的情况下，灰尘与缺陷在相机靶面的成像是一致的，无法准确区分，对缺陷检测的结果造成干扰，比如引起过度检测，将灰尘归结到液晶层的缺陷中。因此，现有技术中检测液晶显示屏的方法不能准确检测到液晶显示屏的缺陷，产生过度检测，影响生产液晶显示屏的效率。

发明内容

本申请的目的在于提供一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法及装置，以解决现有技术不能准确检测到液晶显示屏的缺陷，产生过度检测的问题。

第一方面，本申请实施例提供的一种区分液晶显示屏灰尘和缺陷的方法，所述方法包括：

获取待检测液晶显示屏的待检测正拍图像和待检测斜拍图像其中，所述待检测正拍图像从直拍相机获得，所述待检测斜拍图像从斜拍相机获得；

缩放所述待检测正拍图像和所述待检测斜拍图像，得到尺寸相等的缩放正拍图像和缩放斜拍图像；

确定仿射变换矩阵；

根据所述仿射变换矩阵对所述缩放斜拍图像进行仿射变换，得到配准图像；

提取所述缩放正拍图像的准缺陷坐标，保存为第一集合；

提取所述配准图像的准缺陷坐标，保存为第二集合；

匹配所述第一集合的元素和所述第二集合的元素；

逐个计算已匹配的第一集合的元素与第二集合的元素之间的视差，得到视差集合；

比较所述视差集合内元素与距离阈值，确定准缺陷是否为真实缺陷。

进一步地，确定仿射变换矩阵的步骤包括：

获取标定板的正拍标定图像和斜拍标定图像，其中，所述标定板上设有m*n个标定孔；

统一所述正拍标定图像的尺寸和斜拍标定图像的尺寸，得到尺寸相等的缩放标定正拍图像和缩放标定斜拍图像；

提取所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心的坐标和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心的坐标；

匹配所述缩放正拍标定图像中标定孔圆心和所述缩放斜拍标定图像中标定孔圆心；