[发明专利]一种电路板耐受电场破坏的实验装置及实验方法

权利要求书

1.一种电路板耐受电场破坏的实验方法，其特征在于：使用实验装置，所述实验装置包括测试箱，还包括与所述测试箱箱体侧壁连接向所述测试箱内发射电磁波的射频系统、可使所述测试箱内呈不同强度电场的脉冲电压发生系统、放置待测电路板的支架、测量待测电路板附近电磁波强度的功率探头以及放电信号检测系统；

所述射频系统包括通过传输线相互连接的射频信号源、功率控制系统及复合天线，所述功率控制系统接收射频信号源发射的电磁波，放大处理到相应的功率后经复合天线向所述测试箱体内发射电磁波；

所述功率控制系统包括功率放大器及功率控制回路，所述功率放大器分别与所述射频信号源、复合天线及功率控制回路连接，所述功率控制回路与所述功率探头连接；

测试过程包括如下步骤，

S1，功率放大器预设不同的射频干扰强度，使电路板所处的射频干扰强度维持在预设的射频水平；

S2，当电路板所处环境的射频干扰强度达到恒定的预设水平后，脉冲电压发生系统对电路板施电压脉冲，使电路板处于强电场下；

S3，开启放电信号检测系统，采集电路板的放电量，根据放电量数据计算电路板的耐压评估系数；

S4，根据评估系数评价电路板的耐压等级；

通过如下公式计算耐压评估系数；

其中，Ф为耐压评估系数，P_设为功率放大器的输出功率，U_设为脉冲电压发生系统对电路板两端施加的电压，Q_测为检测到的电路板放电量，Г_板为电路板反射系数，Г_空气为空气反射系数。

2.如权利要求1所述的一种电路板耐受电场破坏的实验方法，其特征在于：当耐压评估系数大于7时，耐受等级为低，耐压评估系数小于或等于7且大于3时，耐受等级为中，耐压评估系数小于等于3时，耐受等级为高。

3.如权利要求1所述的一种电路板耐受电场破坏的实验方法，其特征在于：所述测试箱的外壁内侧设置有可吸收残余射频干扰系数的吸波材料。

4.如权利要求1所述的一种电路板耐受电场破坏的实验方法，其特征在于：所述测试箱的六个侧壁的中央部位均设置有所述复合天线。