[发明专利]一种电路板耐受电场破坏的实验装置及实验方法

说明书

本发明提供了一种电路板耐受电场破坏的实验装置，包括测试箱，还包括与所述测试箱箱体侧壁连接向所述测试箱内发射电磁波的射频系统、可使所述测试箱内呈不同强度电场的脉冲电压发生系统、放置待测电路板的支架、测量待测电路板附近电磁波强度的功率探头以及放电信号检测系统。本发明同时提供了一种电路板耐受电场破坏的实验方法，采用如上的实验装置。本发明提供的一种电路板耐受电场破坏的实验装置和实验方法，可模拟不同使用环境下的高电场、射频干扰强度，对电路板的耐受电场破坏实验。

技术领域

本发明涉及一种电路板的测试装置，尤其是一种可以在多场作用下检测电路板质量的实验装置以及相应的实验方法

背景技术

目前针对电子器件的电磁干扰的检测主要是通过权威的实验中心完成测试，测试过程费时费力，对于一些专业领域使用的电路板来说，无法准确模拟电路板的使用环境下电路板耐受电场破坏的测试。所以急需一种比较简单的电路板耐受电场破坏的测试装置。

发明内容

本发明主要目的在于解决上述问题和不足，提供可准确模拟电路板使用状态下电路板耐受电场破坏的测试并判断电路板耐压等级的一种电路板耐受电场破坏的实验装置及实验方法。

为实现上述目的，本发明首先提供了一种电路板耐受电场破坏电路板质量的实验装置，其技术方案是：

一种电路板耐受电场破坏的实验装置，包括测试箱，还包括与所述测试箱箱体侧壁连接向所述测试箱内发射电磁波的射频系统、可使所述测试箱内呈不同强度电场的脉冲电压发生系统、放置待测电路板的支架、测量待测电路板附近电磁波强度的功率探头以及放电信号检测系统。

进一步的，所述射频系统包括通过传输线相互连接的射频信号源、功率控制系统及复合天线，所述功率控制系统接收射频信号源发射的电磁波，放大处理到相应的功率后经复合天线向所述测试箱体内发射电磁波。

进一步的，所述功率控制系统包括功率放大器及功率控制回路，所述功率放大器分别与所述射频信号源、复合天线及功率控制回路连接，所述功率控制回路与所述功率探头连接。

进一步的，所述放电信号检测系统包括数据采集系统和数据处理和显示系统。

进一步的，所述测试箱内部设置有屏蔽层。

本发明进一步提供了一种检测多场作用下电战利品板质量的实验方法，采用如下技术方案：

一种电路板耐受电场破坏的实验方法，使用如前文所述的实验装置，测试过程包括如下步骤，

S1，功率放大器预设不同的射频干扰强度，使电路板所处的射频干扰强度维持在预设的射频水平；

S2，当电路板所处环境的射频干扰强度达到恒定的预设水平后，脉冲电压发生系统对电路板施电压脉冲，使电路板处于强电场下；

S3，开启放电信号检测系统，采集电路板的放电量，根据放电量数据计算电路板的耐压评估系数；

S4，根据评估系数评价电路板的耐压等级。

进一步的，当耐压评估系数大于时，耐受等级为低，耐压评估系数小于或等于且大于时，耐受等级为中，耐压评估系数小于等于时，耐受等级为高。

进一步的，通过如下公式计算耐压评估系数

其中，Ф为耐压评估系数，P_设为功率放大器的输出功率，U_设为脉冲电压发生系统对电路板两端施加的电压，Q_测为检测到的电路板放电量，Г_板为电路板反射系数，Г_空气为空气反射系数。

进一步的，所述测试箱的外壁内侧设置有可吸收残余射频干扰系数的吸波材料。