[发明专利]设置以装载或卸下掩模盒的设备在审
申请号: | 201710963389.3 | 申请日: | 2017-10-17 |
公开(公告)号: | CN109326533A | 公开(公告)日: | 2019-02-12 |
发明(设计)人: | 李雨青;方玉标 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/677 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 李昕巍;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支撑物 装载端 矩形区 掩模盒 内侧壁 卸下 装载 对角线 矩形棱柱 相隔 | ||
本公开提供一种设置以装载或卸下掩模盒的设备,包括:第一装载端支撑物;以及第二装载端支撑物,与第一装载端支撑物相隔。第一装载端支撑物与第二装载端支撑物各自包含L型矩形棱柱的至少部分。第一装载端支撑物与第二装载端支撑物位于矩形区的对角线上,其中第一装载端支撑物的第一内侧壁与第二装载端支撑物的第二内侧壁划定矩形区的边界,且其中矩形区的第一宽度等于掩模盒的第二宽度,且矩形区的第一长度等于掩模盒的第二长度。
技术领域
本发明涉及半导体制造技术领域,具体而言,涉及避免损伤掩模盒中掩模的装置与方法。
背景技术
光刻通常指的是用以转移几何图案至基板或基板上的层状物的光学制程。举多光刻技术采用光敏材料(一般称作光刻胶)以产生几何图案。举例来说,掩模可置于光刻胶上,接着以射线束如紫外线或准分子激光曝光光刻胶。可进行烘烤或硬化步骤以硬化光刻胶,且可采用显影剂移除光刻胶的曝光部分或未曝光部分,端视光刻胶为正型或负型而定。如此一来,对应掩模的图案将形成于光刻胶中,而图案化的光刻胶可作为遮罩层,以将图案转移至下方层。
发明内容
本发明一实施例提供的设置以装载或卸下掩模盒的设备,包括:第一装载端支撑物;以及第二装载端支撑物,与第一装载端支撑物相隔,其中第一装载端支撑物与第二装载端支撑物各自包含L型矩形棱柱的至少部分,其中第一装载端支撑物与第二装载端支撑物位于矩形区的对角线上,其中第一装载端支撑物的第一内侧壁与第二装载端支撑物的第二内侧壁划定矩形区的边界,且其中矩形区的第一宽度等于掩模盒的第二宽度,且矩形区的第一长度等于掩模盒的第二长度。
附图说明
图1A与图1B分别为一些实施例中,装载端的透视图与平面图。
图2A与图2B分别为一些实施例中,开启状态与关闭状态中的掩模盒其附图。
图3是一些实施例中,自装载端卸下掩模盒的剖视图。
图4是一些实施例中,装载端以及与其相连的装载端支撑物的透视图。
图5A与图5B分别为一些实施例中,装载端支撑物的透视图与平面图。
图6是一些实施例中,另一装载端支撑物的透视图。
图7是一些实施例中,包含装载端支撑物的装载端其透视图。
图8是一些实施例中,图7中的装载端支撑物的透视图。
图9是一些实施例中,另一装载端支撑物的透视图。
图10是一些实施例中,具有感应器的智能装载端的透视图。
图11是一些实施例中,具有感应器的智能装载端的透视图。
图12至图15是一些实施例中,采用智能装载端检测掩模盒的异常状况的方法的剖视图。
图16与图17是一些实施例中,用以锁定智能装载端的装置的多种设计。
图18A与图18B是一些实施例中,采用智能装载端检测掩模盒的异常状况的方法的剖视图。
图19A与图19B是一些实施例中,采用智能装载端检测掩模盒的异常状况的方法的剖视图。
图20A与图20B是一些实施例中,采用智能装载端检测掩模盒的异常状况的方法的剖视图。
图21A与图21B是一些实施例中,采用智能装载端检测掩模盒的异常状况的方法的剖视图。
图22是一些实施例中,在装载端支撑物中与装载端基底上表面上均具有感测器的装载端的剖视图。
图23A与图23B是一些实施例中,锁定用于智能装载端中的装置的设计。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造