[发明专利]旋转锗片/硅片碱腐蚀工艺及其专用设备在审
申请号: | 201710964580.X | 申请日: | 2017-10-17 |
公开(公告)号: | CN107955972A | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 王卿伟;房现阁;柯尊斌 | 申请(专利权)人: | 中锗科技有限公司 |
主分类号: | C30B33/10 | 分类号: | C30B33/10 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)11411 | 代理人: | 黄冠华 |
地址: | 211299 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 旋转 硅片 腐蚀 工艺 及其 专用设备 | ||
技术领域
本发明涉及锗片/硅片生产加工方法,具体来说,涉及一种旋转锗片/硅片碱腐蚀工艺。
背景技术
锗片/硅片常用于太阳能电池衬底或集成电路基底,由锗单晶/硅单晶经过切片、研磨、腐蚀、化学机械抛光、清洗工艺等工序获得。其中腐蚀工艺是晶片加工中重要的一环,起到承前启后的作用。经切片、研磨工序后,一方面锗片/硅片的内部积累了一定的机械应力,另一方面锗片/硅片的表面层布满了微裂纹和细微切料颗粒,即通常所说得损伤层,这些因素最终导致锗片/硅片的强度较低和粗糙度较大。如果对切片、研磨工序后的锗片/硅片不采取相应的工艺处理,而直接进入抛光工序,会大幅度提高碎片率,降低生产效率,增加生产成本。因此,腐蚀工艺处理极为必要,一方面可以去除晶片前道工序造成的损伤层,另一方面去除残留在锗片/硅片内部的应力,从而提高锗片/硅片的强度和降低粗糙度,满足后道工序晶片加工的技术要求。
目前,锗片/硅片的腐蚀方法有两种,一种是HF/HNO3酸法腐蚀体系,一种是NaOH或KOH或NaOH/H2O2碱法腐蚀体系。在国家重视环境保护、公民环保意识提高的大氛围下,由于HF的剧毒性、HNO3挥发NOx的污染性,以及废液后处理困难等缺点,HF/HNO3酸法腐蚀体系逐渐被“无毒、无污染、易处理”的碱法腐蚀体系替代。碱法腐蚀过程中,一般通过手工操作或圆片滚动机(如图1所示)来实现,手工操作时,每次操作只能腐蚀一清洗花篮,腐蚀晶片数量少,生产效率低下。另外,人工操作并不能实现反应全过程溶液的均匀性,使得晶片腐蚀后,表面易出现花纹的问题;圆片滚动机在一定程度上,增加了圆形腐蚀晶片量,提高了生产效率。但是圆片滚动机也有自身的限制,即只能滚动圆形的晶片或短参考边晶片,而不能滚动小尺寸晶片、方形晶片或长参考边晶片,腐蚀对象范围窄。
根据以往的实践经验,搅拌机可以用于搅拌和混料,使得混合粉料或反应液均匀。旋转木马结构不仅可以最大程度上利用空间,而且对所载对象的外形没有限制。在锗片/硅片腐蚀工艺中,结合搅拌机和旋转木马两者的工作原理,设计一种旋转腐蚀工艺,既满足腐蚀体系均匀,又对锗片/硅片形状没有要求,且能在纵向和横向上加大腐蚀晶片数量,满足后道工序对产量和质量的生产需求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种旋转锗片/硅片碱腐蚀专用设备,设有横梁,所述的横梁下方设有:
搅拌机构:横梁下方垂直设有转轴和反应槽,所述的转轴游离端连接转头;所述的转头为柱状,沿着其轴向延伸方向依次设有若干连接孔,所述的连接孔中可拆卸设有支撑杆,支撑杆为L型,游离端向下伸入反应槽内,并且通过连接柱连接承载器;支撑杆和转轴等形成旋转木马式结构。
升降机构:所述的横梁下方垂直设置升降杆,所述的升降杆下方连接升降立柱,立柱底部设有用于支承的基底。
所述的承载器设有承载器盖子和承载器基底,所述的承载器盖子和承载器基底之间通过若干支撑立柱连接,所述的承载器盖子顶部设有孔,用于与连接柱相连。承载器用于放置装有研磨片的清洗花篮,使混合辅料或者反应液均匀。
所述的连接孔分行与列排列,同行的连接孔圆心在同一圆周线上,同列的连接孔圆心在同一高线上。对锗片/硅片形状没有要求,且能在纵向和横向上加大腐蚀晶片数量。
本发明中,连接孔也可以交错设置。
所述的升降杆和转轴平行设置,用于控制转轴的升降,且升降杆和升降立柱之间设有安全限位杆。
所述的转轴通过驱动电机驱动。
本发明还公开了使用上述专用设备进行旋转锗片/硅片碱腐蚀的工艺,包括如下步骤:
1)首先将升降杆升高到一定高度,预留出安装支撑杆和承载器的空间;
2)将支撑杆通过连接孔安装在转头上;
3)然后在反应槽中配制碱腐蚀液,将装有研磨片的清洗花篮放入承载器中,再将承载器安装在支撑杆上;
4)最后下降晶片清洗花篮浸入碱腐蚀溶液中,同时转轴开始工作,旋转速度设定为1转/分钟至10转/秒,旋转碱腐蚀1分钟至10分钟后,提升转动杆,冲洗晶片30秒至180秒;
5)取下承载器,对锗片/硅片进行清洗、甩干、送检验。
所述的步骤3)中,碱腐蚀液由溶质,氧化剂和助剂组成,所述的溶质占碱腐蚀液的重量百分比范围为1%~29.99%,氧化剂所占碱腐蚀液的重量百分比范围为0~15%;助剂所占碱腐蚀液的重量百分比范围为0~15%,余量为去离子水。
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