[发明专利]形成垂直互连结构的方法和半导体器件有效
申请号: | 201710969846.X | 申请日: | 2012-11-16 |
公开(公告)号: | CN107731697B | 公开(公告)日: | 2021-07-16 |
发明(设计)人: | 林耀剑;陈康 | 申请(专利权)人: | 长电集成电路(绍兴)有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/60;H01L23/488;H01L23/31;H01L23/498;H01L23/538;H05K1/18 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 申屠伟进;刘春元 |
地址: | 312000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 形成 垂直 互连 结构 方法 半导体器件 | ||
本发明涉及一种形成垂直互连结构的方法和半导体器件。半导体器件具有半导体管芯。密封剂在半导体管芯上形成。导电微通孔阵列在半导体管芯的覆盖区外部的密封剂上形成。具有台阶穿孔结构的第一穿模孔穿过密封剂形成以露出导电微通孔阵列。在一个实施例中,形成导电微通孔阵列还包括在密封剂和半导体管芯上形成绝缘层,在半导体管芯的覆盖区外部形成穿过绝缘层的微通孔阵列,以及在绝缘层上形成导电层。在另一实施例中,形成导电微通孔阵列还包括形成导电环。在另一实施例中,在半导体管芯上形成绝缘层以用于结构支撑,堆积互连结构在半导体管芯上形成,以及导电互连结构在第一穿模孔中形成。
本申请是申请号“2012104627554”、发明名称为“形成垂直互连结构的方法和半导体器件”的专利申请的分案申请。
技术领域
本发明一般涉及半导体器件,且更具体地涉及一种形成用于三维(3-D)扇出晶片级芯片尺度封装(Fo-WLCSP)的具有导电微通孔阵列的垂直互连结构的方法和半导体器件。
背景技术
常常在现代电子产品中发现半导体器件。半导体器件在电部件的数目和密度方面变化。分立的半导体器件一般包含一种类型的电部件,例如发光二极管(LED)、小信号晶体管、电阻器、电容器、电感器、以及功率金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。集成半导体器件典型地包含几百个到数以百万的电部件。集成半导体器件的示例包括微控制器、微处理器、电荷耦合器件(CCD)、太阳能电池以及数字微镜器件(DMD)。
半导体器件执行各种的功能,诸如信号处理、高速计算、发射和接收电磁信号、控制电子器件、将太阳光转变为电力以及产生用于电视显示的视觉投影。在娱乐、通信、功率转换、网络、计算机以及消费产品的领域中发现半导体器件。还在军事应用、航空、汽车、工业控制器和办公设备中发现半导体器件。
半导体器件利用半导体材料的电属性。半导体材料的原子结构允许通过施加电场或基电流(base current)或通过掺杂工艺而操纵其导电性。掺杂向半导体材料引入杂质以操纵和控制半导体器件的导电性。
半导体器件包含有源和无源电结构。包括双极和场效应晶体管的有源结构控制电流的流动。通过改变掺杂水平和施加电场或基电流,晶体管要么促进要么限制电流的流动。包括电阻器、电容器和电感器的无源结构创建为执行各种电功能所必须的电压和电流之间的关系。无源和有源结构电连接以形成电路,这使得半导体器件能够执行高速计算和其他有用功能。
半导体器件一般使用两个复杂的制造工艺来制造,即,前端制造和和后端制造,每一个可能涉及成百个步骤。前端制造涉及在半导体晶片的表面上形成多个管芯。每个半导体管芯典型地是相同的且包含通过电连接有源和无源部件而形成的电路。后端制造涉及从完成的晶片分割(singulate)各个半导体管芯且封装管芯以提供结构支撑和环境隔离。如此处使用的术语“半导体管芯”指该措词的单数以及复数形式,并且因此可以指单个半导体器件以及多个半导体器件二者。
半导体制造的一个目的是生产较小的半导体器件。较小的器件典型地消耗较少的功率、具有较高的性能且可以更高效地生产。另外,较小的半导体器件具有较小的覆盖区(footprint),这对于较小的终端产品而言是希望的。较小的半导体管芯尺寸可以通过前端工艺中的改进来获得,该前端工艺中的改进导致半导体管芯具有较小、较高密度的有源和无源部件。后端工艺可以通过电互联和封装材料中的改进而导致具有较小覆盖区的半导体器件封装。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造