[发明专利]密封件和密封系统有效

专利信息
申请号: 201710980872.2 申请日: 2017-10-20
公开(公告)号: CN107965576B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: O·纳尔沃尔德;B·特拉伯;S·辛德林格;T·克拉默;F·劳尔;C·戈伊伯特 申请(专利权)人: 卡尔·弗罗伊登伯格公司
主分类号: F16J15/3296 分类号: F16J15/3296;F16J15/3284
代理公司: 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 代理人: 楼震炎
地址: 德国魏*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 密封件 密封 系统
【权利要求书】:

1.具有至少一个密封唇(2)的密封件(1),该密封件用于密封在机器元件(4)与壳体(5)之间的间隙(3),所述密封件包括由弹性材料制成的基体(6),其特征在于,所述基体(6)配备成可导电的并且在外侧至少部分地利用由电绝缘材料制成的覆盖罩(7)遮盖,所述覆盖罩(7)至少配设给基体(6)的如下区域,所述区域与机器元件(4)以及壳体(5)接触,其中,所述覆盖罩跟随所述基体的外部轮廓,并且该覆盖罩面状地贴靠在基体上。

2.根据权利要求1所述的密封件,其特征在于,所述基体(6)由弹性体材料制成。

3.根据权利要求1所述的密封件,其特征在于,所述弹性材料设有可导电的颗粒。

4.根据权利要求1至3之一所述的密封件,其特征在于,所述基体(6)设有接触元件(8)以用于电触点接通。

5.用于密封在机器元件(4)与壳体(5)之间的间隙(3)的密封系统(9),该密封系统包括至少一个根据权利要求1至4之一所述的密封件(1),其特征在于,至少所述机器元件(4)或所述壳体(5)的至少一部分是可导电的,并且设有评估电子装置(20),并且该评估电子装置(20)检测在基体(6)与机器元件(4)或壳体(5)之间的电容(C)。

6.根据权利要求5所述的密封系统,其特征在于,所述评估电子装置(20)具有电容测量仪器(23)、存储器(21)以及输出装置(22)。

7.根据权利要求5或6所述的密封系统,其特征在于,所述密封系统具有支承体(10),其中,该支承体(10)由电绝缘材料构成。

8.根据权利要求7所述的密封系统,其特征在于,所述基体(6)设有接触元件(8)以用于电触点接通,所述支承体(10)设有用于将所述接触元件(8)与所述评估电子装置电连接的装置(11)。

9.根据权利要求7所述的密封系统,其特征在于,该密封系统(9)具有两个密封件(1),这两个密封件分别配设给支承体(10)的一个轴向端侧(12),从而密封系统(9)双向密封。

10.根据权利要求5或6所述的密封系统,其特征在于,所述密封系统(9)是杆密封件。

11.根据权利要求5或6所述的密封系统,其特征在于,所述密封系统(9)是径向轴密封件。

12.根据权利要求10所述的密封系统,其特征在于,该密封系统(9)是杆紧凑密封件。

13.用于监控根据权利要求6至12之一所述的密封系统(9)的方法,其具有如下步骤:

a)利用电容测量仪器(23)测量在基体(6)与机器元件(4)或壳体(5)之间的电容(C);

b)将测量值与至少一个存储在存储器(21)中的边界值(C1、C2、C3)进行比较,其中,在限定的时间间隔中重复所述步骤a)和b);

c)当至少一个边界值(C1、C2、C3)被超过时,借助输出装置(22)输出信息。

14.根据权利要求13所述的用于监控密封系统的方法,其特征在于,在第一次实施步骤a)之前进行电容测量仪器(23)的校准。

15.根据权利要求13或14所述的用于监控密封系统的方法,其特征在于,

设置第一边界值(C1),在该第一边界值的情况下,在步骤c)中输出预订要求和/或

设置第二边界值(C2),在该第二边界值的情况下,在步骤c)中输出更换要求和/或

设置第三边界值(C3),在该第三边界值的情况下,在步骤c)中输出关断要求。

16.用于密封在机器元件(4)与壳体(5)之间的间隙(3)的密封系统(9),该密封系统包括至少一个根据权利要求1至4之一所述的密封件(1),其特征在于,

至少所述机器元件(4)或所述壳体(5)的至少一部分是可导电的,并且设有评估电子装置(20),并且所述评估电子装置(20)借助介电谱分析检测覆盖罩(7)的介电特性。

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