[发明专利]控制系统、其控制方法及计算机可读存储介质

说明书

本发明提供一种在测量对象物的形状时可扩展性高的控制系统、控制方法及计算机可读存储介质。本发明提供一种PLC系统(SYS)，包括：位移传感器(7)、驱动装置(30、40)以及PLC(1)。PLC系统(SYS)设置测量间隔和用于测量对象物(A)的测量范围，将按照PLC(1)所设置的测量间隔而读出的位移传感器(7)的多个一维信息和来自驱动装置(30、40)的多个位置信息作为测量数据来获取，并生成二维形状数据。

技术领域

本发明涉及与用于测量对象物的形状的控制应用程序有关的控制系统、该控制系统的控制方法及计算机可读存储介质。

背景技术

许多在生产现场使用的机器、设备由可编程逻辑控制器(Programma ble LogicController，以下也称为PLC)等控制装置控制。已知一种控制系统，使用这种控制装置来控制测量装置并测量对象物的形状。例如，专利文献1中公开了一种在测量装置中使用线性传感器(二维位移)来测量对象物的形状的控制系统。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2012-103266号公报

然而，在专利文献1所公开的控制系统中，存在有只能在线性传感器本身的测量范围内测量对象物的形状，并且受到线性传感器的特性的限制的问题。尤其是，当以高分辨率测量对象物的形状时，或者当对象物的形状具有高度差时，无法超越线性传感器的特性去测量高分辨率和高度差。因此，在专利文献1所公开的控制系统中，存在无法获得足够的可扩展性，并且可使用的范围受限制的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种在测量对象物的形状时可扩展性高的控制系统、控制方法及计算机可读存储介质。

根据本发明的一个方面，提供了一种控制系统，包括：测量装置，用于测量对象物的一维信息；驱动装置，用于改变测量装置与对象物之间的相对位置；以及控制装置，用于控制测量装置和驱动装置，以便基于由所述测量装置测量的一维信息来获取对象物的二维形状或三维形状的信息。所述控制装置包括：测量数据获取部，其能够设置测量对象物的测量范围以及测量间隔，用于将根据设置的测量间隔读出的测量装置的多个一维信息和来自驱动装置的多个位置信息作为测量数据来获取；以及形状数据生成部，用于基于由测量数据获取部获取的测量数据来生成二维形状或三维形状的形状数据。

优选地，测量数据获取部组合由测量装置测量的一维信息和来自驱动装置的位置信息，并获取测量数据。

优选地，形状数据生成部比对测量间隔的位置来校正测量数据的一维信息，作为每个测量间隔的一维信息，并生成形状数据。

优选地，还包括：特征量运算部，用于基于由形状数据生成部生成的形状数据来运算对象物的特征量。

优选地，作为主装置而发挥功能的控制装置，与作为从装置而发挥功能的测量装置及驱动装置经由网络相连接。

根据本发明的另一方面，提供了一种控制装置的控制方法，所述控制装置用于使用驱动装置来改变测量对象物的一维信息的测量装置与对象物之间的相对位置，并控制测量装置和驱动装置，以基于由测量装置测量的一维信息来获取对象物的二维形状或三维形状的信息。所述控制方法包括：能够设置测量对象物的测量范围以及测量间隔，并将按照设置的测量间隔而读出的测量装置的多个一维信息和来自驱动装置的多个位置信息作为测量数据来获取；以及基于获取的测量数据来生成二维形状或三维形状的形状数据。