[发明专利]电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置

权利要求书

1.一种电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温方法包括以下步骤：

每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等于2的整数；

根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；

根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件；

根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，并根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度，以提高所述电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制和提高在异常状态下保护的及时率。

2.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，

当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。

3.如权利要求2所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，当所述锅具温度处于所述温度稳定阶段时，获取所述多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。

4.如权利要求1-3中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，根据以下公式计算每个温度方差：

S²＝∑(X–X’)²/(N-1)，

其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。

5.如权利要求1所述的电磁加热烹饪器具的测温方法，其特征在于，所述多个测温元件以加热区域的圆心为轴心周向设置。

6.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温方法。

7.一种电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温装置包括：

温度获取模块，用于每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等于2的整数；

判断模块，用于根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；

测温模块，用于根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，并根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，以及根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度，其中，每个温度方差对应一个测温元件。

8.如权利要求7所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，

当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，所述测温模块获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。

9.如权利要求8所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，当所述锅具温度处于所述温度稳定阶段时，所述测温模块获取所述多个温度方差中的最小温度方差，并将最小温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。

10.如权利要求7-9中任一项所述的电磁加热烹饪器具的测温装置，其特征在于，所述测温模块根据以下公式计算每个温度方差：

S²＝∑(X–X’)²/(N-1)，

其中，S为温度方差，X为每个测温元件的温度采样值，X’为N个温度采样值的平均值。