[发明专利]电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置

说明书

本发明公开了一种电磁加热烹饪器具及其测温方法和装置，该电磁加热烹饪器具包括加热面板，加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应加热区域设置多个测温元件，该方法包括以下步骤：每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值；根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；根据N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件；根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，并根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。

技术领域

本发明涉及家用电器技术领域，特别涉及一种电磁加热烹饪器具的测温方法、一种非临时性计算机可读存储介质、一种电磁加热烹饪器具的测温装置和一种具有该测温装置的电磁加热烹饪器具。

背景技术

现有电磁炉结构的测温方式一般是采用一个测温元件(例如，温度传感器)安装在线圈盘中心位置来测温，但这种测温方式具有一定局限性，锅具中心需与测温元件接触良好，如果锅具偏移、变形，就会造成测温不准。

因此行业内开发了多点测温设计，即在线圈盘上安装多个测温元件，解决上述问题，但是多个测温元件共同使用时，受环境、结构、装配影响，每个测温元件之间会有差异，无法确定哪一个测温元件最能真实反映锅具的温度，造成测温精度不准以及保护不及时的问题。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决上述技术中的技术问题之一。

为此，本发明的第一个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具的测温方法，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。

本发明的第二个目的在于提出一种非临时性计算机可读存储介质。

本发明的第三个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具的测温装置。

本发明的第四个目的在于提出一种电磁加热烹饪器具。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种电磁加热烹饪器具的测温方法，所述电磁加热烹饪器具包括加热面板，所述加热面板上设有放置锅具的加热区域，对应所述加热区域设置多个测温元件，所述测温方法包括以下步骤：每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，其中，每组温度采样值包括多个温度采样值，N为大于等2的整数；根据所述N组温度采样值获取锅具温度变化情况，并根据所述锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段；根据所述N组温度采样值计算多个温度方差，其中，每个温度方差对应一个测温元件；根据所述锅具温度当前所处阶段和所述多个温度方差获取最佳测温元件，并根据所述最佳测温元件的温度采样值获取所述锅具温度。

根据本发明实施例的电磁加热烹饪器具的测温方法，首先每隔预设时间获取每个测温元件的温度采样值，以获取N组温度采样值，并根据N组温度采样值获取锅具温度变化情况，以及根据锅具温度变化情况判断锅具温度当前所处阶段，然后根据N组温度采样值计算多个温度方差，最后根据锅具温度当前所处阶段和多个温度方差获取最佳测温元件，并根据最佳测温元件的温度采样值获取锅具温度。由此，能够找到不同加热阶段的最佳测温元件，且以最佳测温元件的温度采样数据为基础，可精准和有效地获得锅具温度。既有利于提高电磁加热烹饪器具对烹饪温度的控制，有提高了在异常状态下保护的及时率。

另外，根据本发明上述实施例提出的电磁加热烹饪器具的测温方法还可以具有如下附加的技术特征：

在本发明的一个实施例中，所述锅具温度当前所处阶段包括温度上升阶段和温度稳定阶段，其中，当所述锅具温度处于所述温度上升阶段时，获取所述多个温度方差中的最大温度方差，并将最大温度方差对应的测温元件作为所述最佳测温元件。