[发明专利]一种聚合物熔融电阻率的测试方法

权利要求书

1.一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征是：将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率；电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内；

电极片Ⅰ覆盖的开口端上还覆盖有导电片，导电片位于电极片Ⅰ的下方且尺寸小于电极片Ⅰ，导电片上设有多个透气孔；

测试步骤具体如下：

(1)将电极片Ⅱ固定并盖在测试板内部中空腔的一开口端；

(2)加热测试板并将聚合物切片加入中空腔内直至聚合物熔体填满中空腔，其中加热温度高于聚合物熔点，低于测试板的熔点；

(3)将导电片盖在中空腔的另一开口端，按压排除导电片与聚合物熔体之间的空气后再将电极片Ⅰ置于导电片上；

(4)保温一段时间后进行电阻测试；

(5)冷却聚合物熔体后观察气泡或溢流量，超过设定值，则调整聚合物切片在中空腔内的排列密度以及导电片上透气孔的数量和大小后重新进行实验；反之，则进行平行实验。

2.根据权利要求1所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，所述聚合物为PET，所述聚合物切片的质量为0.6g，精确至0.0001g。

3.根据权利要求2所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，所述测试板为矩形板，测试板的厚度为20mm，长度为150mm，宽度为50mm；所述测试板的材质为聚四氟乙烯；所述中空腔为底面为正方形的腔体，腔体的深度为2mm，正方形的边长为15mm。

4.根据权利要求3所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，电极片Ⅰ、电极片Ⅱ和导电片都为铝箔。

5.根据权利要求4所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，电极片Ⅱ为边长≤50mm的正方形，厚度为2mm；导电片为边长≤40mm的正方形，厚度为2mm；电极片Ⅰ为边长≤50mm的正方形，厚度为2mm。

6.根据权利要求5所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，所述电极片Ⅱ通过铝箔胶带固定在测试板上，铝箔胶带为边长≤50mm的正方形胶带。

7.根据权利要求6所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，所述加热温度为285℃，所述保温的温度为285℃，保温时间为3min。

8.根据权利要求7所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，其特征在于，所述电阻测试采用万用表，具体测试方法为：将电阻测试仪旋钮调到测试档，并将万用表调到欧姆档，在停止保温1分钟内，温度需要稳定在285±1℃，观察万用表读数，待数值稳定后，记录下测定数值。