[发明专利]一种聚合物熔融电阻率的测试方法

说明书

本发明涉及一种聚合物熔融电阻率的测试方法，将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率，电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内，电极片Ⅰ覆盖的开口端上还覆盖有导电片，导电片位于电极片Ⅰ的下方且尺寸小于电极片Ⅰ，导电片上设有多个透气孔。本发明的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，操作简便，且对聚合物状态无特殊要求，测试要求低，效率高，对测试中容易产生的气泡和填充不实等现象，可及时排查解决，测试精确度高，重复操作性好且测试过程中消耗的聚合物少，实现了对于聚合物电阻率的快速精准的测量，有极好的经济价值和推广价值。

技术领域

本发明属于测量领域，具体涉及一种聚合物熔融电阻率的测试方法。

背景技术

PET聚合物不但具有优良的机械性能、耐化学性、电绝缘性和气密性，而且还具有不易破碎、无毒、无异嗅和易回收等优点，因此已被广泛应用于国防、石油、电器、药品和包装等多种领域。在实际应用中，如在易燃易爆场所和生产储运过程中往往需要PET聚合物具有较高的绝缘性和耐压强度，才能有效避免漏电和击穿等事故的发生，因此针对PET聚合物的电阻测量就非常重要，其对指导生产工艺参数的调整有着十分重要的意义。

现有技术中的PET片材电阻的测量方法一般是采用圆柱形状的聚四氟乙烯圆杯作为测试容器，在圆杯内衬不锈钢板作为正电极，在圆杯底板正中心固定一根不锈钢棒作为负电极，然后使用电阻测试仪连接正负电极，从而达到测量杯内PET熔体电阻的目的。上述方法操作复杂，且在PET熔体电阻的测量过程中还会经常存在熔体填充不完全和有气泡等现象，导致测量结果真实性大幅度降低。此外，上述方法只能采样现成的PET熔体，对于PET熔体的需求量较多且测量时间有限，测量时间稍长熔体将会冷却凝固，只能重新采集PET熔体，容易造成资源浪费且PET聚合物的固定加热板不易清洁，导致测量速度和测量结果精确度都无法得到保障，测量可重复性不好，且正负电极有受损的潜在危险，如果一次检测的试样比较多，就需要很长时间才能完成，所以传统的聚合物电阻的测量方法往往不能够满足人们在工业生产活动中的要求，进而进一步影响了整个工业生产活动的连续性和安全性。

因此，亟待研究出一种操作简便并且测试精确度高、效率高的聚合物熔融电阻率的测试方法。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术中聚合物电阻测试方法操作复杂并且测试精确度低、效率低的缺点，从而提供了一种操作简便并且测试精确度高、效率高的聚合物熔融电阻率的测试方法。

为了达到上述目的，本发明采用的技术方案为：

一种聚合物熔融电阻率的测试方法，将两个开口端分别由电极片Ⅰ和电极片Ⅱ进行覆盖的中空腔内填满聚合物熔体后，测量两电极片之间的电阻率；电极片Ⅰ和电极片Ⅱ的材料相同，中空腔设置在绝缘材料内，电极片Ⅰ和电极片Ⅱ为同样材料，避免不同材质间导电性能差异；可以不同样尺寸形状，但必须满足覆盖测量腔，而且满足不会导致熔体溢出电极片周边以影响测量；建议设置为同样厚度，方便使用操作；中空腔包围材料必须绝缘，如果中空腔周围材料不绝缘，测试方法不成立，无法使用扣除法进行结果比对。

作为优选的技术方案：

如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，电极片Ⅰ覆盖的开口端上还覆盖有导电片，导电片位于电极片Ⅰ的下方且尺寸小于电极片Ⅰ，导电片上设有多个透气孔以便于空腔内聚合物熔融状态下气体的排出，本发明在电极片I下设置导电片以保证能够全面接触到中空腔内的熔体，导电片的尺寸小于电极片Ⅰ的尺寸使得导电片更贴合空腔中聚合物，利于气体的排出。

如上所述的一种聚合物熔融电阻率的测试方法，测试步骤具体如下：

(1)将电极片Ⅱ固定并盖在测试板内部中空腔的一开口端，固定的目的是防止聚合物加热熔融后流动使电极片Ⅱ位移，导致聚合物流出或上下铝箔接触短路影响测定；