[发明专利]一种内存自动散热测试方法及系统

权利要求书

1.一种内存自动散热测试方法，其特征是，具体包括以下步骤：

调节测试环境；

加载测试压力；

检测压力是否最大化，如果否，则继续加压，否则执行下一步；

卸载压力。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征是，所述调节测试环境具体为调节温度箱的温度为25度--45度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征是，所述加载测试压力的方法包括增加内存的使用率。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征是，检测压力是否最大化的方法包括检测内存的温度；

内存的温度具体包括：

内存温度先稳定后升高，表示内存为加压状态；

内存温度比正常温度高且稳定，表示内存加压完毕；

内存温度由高变低，表示内存泄压。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征是，在卸载压力之前，还需要记录并导出测试数据。

6.一种内存自动散热测试系统，利用权利要求1至5任意一项所述的方法，其特征是，包括调节模块，用于调节测试的环境，使测试环境达到合适的温度；和，

压力测试模块，用于对内存进行加压，在内存压力最大时进行减压；和，

压力检测模块，用于对内存的压力进行实时检测；和，

判断模块，用于判断内存的实时压力是否最大。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征是，所述测试环境的温度为25度--45度。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征是，系统还包括输出记录模块，用于在卸载压力之前，对内存的压力测试数据输出保存，以便后续查询。