[发明专利]一种内存自动散热测试方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及内存测试技术领域，具体地说是一种内存自动散热测试方法及系统。

背景技术

服务器的构成有处理器、内存、硬盘、主板等，由于它们是针对特定的应用制定的，因而服务器与微机在处理能力、稳定性、可管理性、可扩展性、可靠性、安全性等方面存在较大差异。尤其是随着信息技术的进步，人们对于服务器的要求越来越高，特别是对于数据的存储计算能力，内存是计算机中重要的部件之一，它是与CPU进行沟通的桥梁。计算机中所有程序的运行都是在内存中进行的，因此内存的性能对计算机的影响非常大。内存(Memory)也被称为内存储器，其作用是用于暂时存放CPU中的运算数据，以及与硬盘等外部存储器交换的数据。只要计算机在运行中，CPU就会把需要运算的数据调到内存中进行运算，当运算完成后CPU再将结果传送出来，内存的运行也决定了计算机的稳定运行。

当内存被放在散热条件差的状态下，会导致内存驱动过早损坏，并且服务器其他的组件也会出现大量故障，极大可能会发生宕机、死机的现象。

所以我们在服务器的研发阶段，对于内存的散热测试要求就显得尤其重要，内存的散热测试的是一个冗杂耗时的过程，会消耗大量的人力物力。甚至有时会因为测试中的一些避免不了的人员流动，引起风流以及环境温度等的变化导致测试结果的不准确，最终导致内存的散热设计造成偏差，现有内存散热测试的方法很繁杂，有时还会由于操作者的一些微小错误，还容易出现结果偏差的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种内存自动散热测试方法及系统，用于解决内存的散热测试消耗大量人力物力、测试结果不准确、容易出现偏差的问题。

本发明解决其技术问题所采取的技术方案是：一种内存自动散热测试方法，具体包括以下步骤：

调节测试环境；

加载测试压力；

检测压力是否最大化，如果否，则继续加压，否则执行下一步；

卸载压力。

进一步地，所述调节测试环境具体为调节温度箱的温度为25度--45度。

进一步地，所述加载测试压力的方法包括增加内存的使用率。

进一步地，检测压力是否最大化的方法包括检测内存的温度；

内存的温度具体包括：

内存温度先稳定后升高，表示内存为加压状态；

内存温度比正常温度高且稳定，表示内存加压完毕；

内存温度由高变低，表示内存泄压。

进一步地，在卸载压力之前，还需要记录并导出测试数据。

一种内存自动散热测试系统，利用所述的方法，包括调节模块，用于调节测试的环境，使测试环境达到合适的温度；和，

压力测试模块，用于对内存进行加压，在内存压力最大时进行减压；和，

压力检测模块，用于对内存的压力进行实时检测；和，

判断模块，用于判断内存的实时压力是否最大。

进一步地，所述测试环境的温度为25度--45度。

进一步地，系统还包括输出记录模块，用于在卸载压力之前，对内存的压力测试数据输出保存，以便后续查询。

以上发明内容提供的仅仅是本发明实施例的表述，而不是发明本身。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

在内存散热测试过程中极大的减少人为引起风流以及环温等的变化导致测试结果的不准确性，提高了服务器运行的可靠性。

减少了人力的需求，提高设备的使用率，极大地提高了工作效率，从而节约了能耗。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步解释，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1为本发明实施例的方法流程示意图；

图2为本发明实施例的系统结构示意图。

具体实施方式

为了能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。