[发明专利]用于磁盘驱动器的伪挠性件及测试用于磁盘驱动器的电子电路的方法

说明书

一测试试片(52A)包括伪元件电路(105)，该伪元件电路由主电路部分(100)和调节部分(101)构成。主电路部分(100)包括第一图案导体(81)和第二图案导体(96,97)。第一图案导体(81)和第二图案导体(96,97)相互重叠，并有一介电层(71)插入其间。第一图案导体(81)电气连接到第二图案导体(96,97)。主电路部分表示等效电路的R元件和L元件，且其是决定信号波形的主要电路元件。调节部分(101)包括线性导体(82,83)。调节部分(100)的R元件和L元件抑制了电压波形的峰值。

技术领域

本发明涉及一种用于磁盘驱动器的伪挠性件，该伪挠性件包括一个测试试片，其用于对所述磁盘驱动器的电子电路进行测试和评估等，以及一种为所述磁盘驱动器测试所述电子电路的方法。

背景技术

硬盘驱动器(HDD)用于诸如个人计算机的信息处理设备。硬盘驱动器包括可绕主轴旋转的磁盘，可绕枢轴转动的滑架等。滑架的臂上设有磁盘驱动器悬架(以下简称为悬架)。

悬架包括诸如负载梁，和设置成与负载梁重叠的挠性件等元件。包括滑动件的磁头安装在形成于挠性件的远端附近的万向节部上。磁头设置有用于访问数据，即用于读取或写入数据的元件。负载梁和挠性件等构成头部万向节组件。

根据要求的规格，各种类型的挠性件已被实际使用。例如，如专利文献1(US8325446B)或专利文献2(US 8295013B)中公开的具有导体的挠性件是已知的。具有导体的挠性件包括由薄不锈钢板制成的一金属底座、形成于金属基底上的一绝缘层、形成于绝缘层上的多个导体等。绝缘层由电绝缘材料制成，例如聚酰亚胺。部分导体用于写入。写入导体的一端连接到布置在磁头中的元件(例如，电磁线圈)。写入导体的另一端则通过诸如柔性印刷电路(FPC)的电路板连接到前置放大器的信号输出电路。

为了将包含新开发的悬架的磁盘驱动器商业化且将其投入市场，全面检查包括磁头的电子电路的电气特性是重要的。因此，之前在将磁头(包括写入元件的滑动件)安装在挠性件上，并且挠性件布置在负载梁上的情况下使用测试设备进行测试。例如，通过使该测试设备的探头与导电到磁头的元件的焊盘接触，来建立元件和测试设备之间的电导。在该状态下，将用于测试的脉冲信号输入到电子电路中。此外，根据从焊盘输出的电压波形，检查包括挠性件的导电电路部分的电子电路的特性。

正在尝试将安装在悬架上的磁头(滑动件)小型化。此外，随着磁头的元件数量的增加，焊盘的数量也已经相应增加。因此，相邻焊盘之间的间隔(即焊盘间距)倾向于较小。例如，在具有四个焊盘的常规磁头中，磁头的宽度约为1mm，焊盘间距约为0.2mm。在目前可用的具有八个焊盘的磁头中，该磁头的宽度减小到大约0.7mm，而焊盘间距减小到大约0.08mm。现在已经开发了具有更多数量的焊盘(例如，十四个焊盘)的磁头。因此，将测试设备的探头(即进行探测)与布置在狭窄范围内的焊盘精确接触变得越来越困难。

由于该磁头很小，为了将磁头安装在挠性件上，需要用到专用的安装设备。当使用这种安装设备时，需要预先将挠性件安装在负载梁上。也就是说，悬架在安装有磁头的挠性件和负载梁构成的状态下进行测量。因此，磁头在测量时容易摆动，难以稳定地进行探测。此外，当探头被紧紧压靠在焊盘上时，万向节部分可能变形，并且电气特性可能发生变化。此外，还存在一个问题，即为了通过使用磁头来测试电子电路，只有当磁头和悬架都完成时才能进行测试。

另一种可采用的方法是通过使用伪探头装置来评估电气特性，而无需将磁头安装在挠性件上。伪探头装置包括一芯片电阻，其连接到市售探头的远端部，和设置在芯片电阻器上的探针。芯片电阻的电阻接近实际磁头的电阻。然而，在这种伪探头装置中很难调节电阻(R元件)，并且也很难获得一个理想的电感值。此外，在这种类型的手工伪探头装置中，电气特性的变化相对较大，并且有时难以评估测试结果。此外，伪探头装置具有问题，例如探针缺乏灵活性，使得探测变得困难。