[发明专利]变压器不拆高压引线下测试介质损耗因数及电容量的方法

权利要求书

1.一种变压器不拆高压引线下测试介质损耗因数及电容量的方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤S1：拆除变压器500Kv侧套管与500Kv侧导线连接的导线，并将其分开，使得两者位置拉开至大于1m的位置，该位置记为HV1；现场拆开500Kv侧避雷器底座导体与泄漏电流表的连接处M1；

步骤S2：将介质损耗测试仪的高压线HV接上500KV侧避雷器顶部均压环A0上，并且将500Kv侧电压互感器的第一节与第二节法兰交叉处，记为A1，将500Kv侧电压互感器的第二节与第三节法兰交叉处，记为A2，将M1与A2短接后，接入介质损耗测试仪的Cx端；

步骤S3：断开现场500Kv侧接地刀闸后，操作介质损耗测试仪，分别采用正接线法，加压10Kv测试，获取数据电容值C1和介损值tanδ1；采用反接M法，加压10Kv测试，获取数据电容值C2和介损值tanδ2以及电容值C3和介损值tanδ3；合上上述500Kv侧接地刀闸；

步骤S4：拆除变压器220Kv侧套管与220Kv侧导线连接的部分，并将其分开，使得两者大于1m的位置，该位置记MV1点；现场拆开220Kv侧避雷器底座导体与泄漏电流表的连接处M2；

步骤S5：将介质损耗测试仪的高压线HV接上220Kv侧的避雷器上的均压环B0上，将220Kv侧电压互感器的第1节与第2节法兰交叉处记为B1；将M2与B1短接后，接入介损仪的Cx端；

步骤S6：断开现场220Kv侧接地刀闸后，操作介质损耗测试仪，分别采用正接线法，加压10Kv测试，获取电容值C4和介损值tanδ4；采用反接M法，加压10Kv测试，获取电容值C5和介损值tanδ5以及电容值C6和介损值tanδ6；合上现场220Kv侧接地刀闸；

步骤S7：拆除变压器中性点套管引线接线OV1，将HV1与变压器500Kv侧套管相连，将MV1与变压器200Kv侧套管相连，变压器500Kv侧套管与变压器220Kv侧套管和变压器中性点套管通过导线HMO短接；拆除低压绕组套管引线接线，并将低压套管间通过导线LV短接；将M1与A2通过第一导线短接接地，以及将M2与B1通过第二导线短接接地；

步骤S8：将介质损耗测试仪的高压线HV与导线HMO连接，将导线LV通过第三导线接地，现场断开500Kv侧接地刀闸和220Kv侧接地刀闸后，操作介质损耗测试仪，采用反接线，加压10Kv测试，获取数据电容值C7和介损值tanδ7；合上500Kv侧接地刀闸和220Kv侧接地刀闸，然后拆除第三导线；

步骤S9：将介质损耗测试仪的高压线HV与导线HMO连接，且导线HMO与导线LV通过第四导线短接，现场断开500Kv侧接地刀闸和220Kv侧接地刀闸后，操作介损测试仪，采用反接线，加压10Kv测试，获取数据电容值C8和介损值tanδ8；合上500Kv侧接地刀闸和220Kv侧接地刀闸，然后拆除第四导线；

步骤S10：将介质损耗测试仪高压线HV与导线LV连接，将导线HMO通过第五导线短接接地，操作介质损耗测试仪，采用反接线，加压10Kv测试，获取数据电容值C9和介损值tanδ9；

步骤S11：恢复中性点套管引线接线OV1，拆除导线HMO和导线LV，恢复低压绕组套管引线接线；

步骤S12；获取高压和中压对低压及地的介损值tanδHM和高压和中压对低压及地的电容值C_HM：

C_HM＝C₇-C₂-C₅-C₁-C₄；

以及高压、中压和低压对地的介损值tanδHML和高压、中压和低压对地的电容值C_HML：

C_HML＝C₈-C₂-C₅-C₁-C₄；

以及低压对高压、中压及地的介损值tanδL和低压对高压、中压及地的电容值C_L：

tanδL＝tanδ9；

C_L＝C9。