[发明专利]一种电光扫描的OSA

说明书

本发明公开一种电光扫描的OSA，包括依次设置的光纤准直器、walk‑off晶体、第一电光偏振器、标准具阵列、聚焦阵列和PD阵列，光纤准直器为单光纤准直器，walk‑off晶体将光线准直器发的光分为P偏振光和S偏振光，walk‑off晶体的出射端设有宽带波片，P偏振光和S偏振光经由第一电光偏振器偏振后，依次通过标准具阵列和聚焦阵列到达PD阵列。本发明采用一维或二维KTN制作电光偏转器，配和不同波段单模或多光纤头制作的光纤准直器1、Work‑off晶体、宽带波片3、一维或二维排布的超薄标准具和不同波段的PD构成宽带OSA制成快速的OSA。本发明具有更大范围的扫描角，可进行大规模光谱的快速扫描。

技术领域

本发明涉及光纤通讯领域，尤其涉及一种电光扫描的OSA。

背景技术

现有电光扫描的OSA,扫描带宽较小，对大规模光谱的扫描速度慢。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种电光扫描的OSA。

本发明采用的技术方案是：

一种电光扫描的OSA，其包括依次设置的光纤准直器、walk-off晶体、第一电光偏振器、标准具阵列、聚焦阵列和PD阵列，光纤准直器为单光纤准直器，walk-off晶体将光线准直器发的光分为P偏振光和S偏振光，walk-off晶体的出射端设有宽带波片，P偏振光和S偏振光经由第一电光偏振器偏振后，依次通过标准具阵列和聚焦阵列到达PD阵列。

所述宽带波片为1/2波片。

所标准具阵列、聚焦阵列和PD阵列呈一维排布。

所述第一电光偏振器为KTN晶体，KTN晶体的两侧加设有电极。

一种电光扫描的OSA，其包括依次设置的光纤准直器、walk-off晶体、第一电光偏振器、第二电光偏振器、标准具阵列、聚焦阵列和PD阵列，所述光纤准直器为多光纤准直器，walk-off晶体将光线准直器发的光分为P偏振光和S偏振光，walk-off晶体的出射端设有宽带波片，第一电光偏振器和第二电光偏振器的偏振方向不同，P偏振光和S偏振光经由第一电光偏振器和第二电光偏振器偏振后，依次通过标准具阵列和聚焦阵列到达PD阵列。

多光纤准直器采用不同波段的单模或多模光纤制成。

所述宽带波片为消色散波片。

所述标准具阵列、聚焦阵列和PD阵列呈二维排布。

第一电光偏振器、第二电光偏振器均为KTN晶体，KTN晶体的两侧加设有电极。

第一电光偏振器和第二电光偏振器偏振方向相互垂直。

本发明采用以上技术方案，采用一维或二维KTN制作电光偏转器，仿Egies的硅扫描标准具，配和不同波段单模或多光纤头制作的光纤准直器、Work-off晶体、宽带波片、一维或二维排布的超薄标准具和不同波段的PD构成宽带OSA制成快速的OSA。本发明的电光扫描的OSA尺寸小，具有更大范围的扫描角，可进行大规模光谱的快速扫描。

附图说明

以下结合附图和具体实施方式对本发明做进一步详细说明；

图1为本发明一种电光扫描的OSA的实施例1的正视结构示意图；

图2为本发明一种电光扫描的OSA的实施例1的俯视结构示意图；

图3为本发明一种电光扫描的OSA的实施例2的结构示意图。

具体实施方式

实施例1：