[发明专利]一种FRGPP芯片玻钝前多重扩散工艺有效
申请号: | 201711059107.3 | 申请日: | 2017-11-01 |
公开(公告)号: | CN109755118B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 梁效峰;徐长坡;陈澄;杨玉聪;李亚哲;黄志焕;王晓捧;王宏宇;王鹏 | 申请(专利权)人: | 天津环鑫科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/228 | 分类号: | H01L21/228;H01L21/268;H01L21/306;H01L21/329 |
代理公司: | 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 | 代理人: | 栾志超 |
地址: | 300380 天津市西青区*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 frgpp 芯片 玻钝前 多重 扩散 工艺 | ||
本发明公开了一种FRGPP芯片玻钝前多重扩散工艺,该方法包括如下步骤:S1磷硼一次扩散制绒,对扩散前处理后的硅片一面扩散磷扩散源,另一面扩散硼扩散源或硼铝扩散源,并进行硅片制绒;S2铂扩散,对磷硼一次扩散制绒后的硅片扩散铂扩散源。本发明的有益效果是采用丝网印刷工艺在硅片两面分别印刷磷扩散源、硼扩散源或硼铝扩散源,使得硅片液态源的涂覆流程得到简化,加工周期缩减;液态源涂覆后采用一次负压扩散工艺,减轻硅片边缘返源情况,扩散工艺步骤简化,提高了扩散效率;制作的PN结均匀,使得硅片的加工成本降低。
技术领域
本发明属于硅片的制造工艺领域,尤其涉及一种FRGPP芯片玻钝前多重扩散工艺。
背景技术
快恢复玻璃钝化二极管(FRGPP)作为一种开关特性好、反向恢复时间短的半导体二极管,应用领域很广范,主要应用于开关电源、PWM脉宽调制器、变频器等电子电路中,市场前景广阔,发展空间较大。
传统工艺下,铂扩散时间较长,且铂扩散后硅片的反向恢复时间(trr)性能不均匀,造成成品漏电流IR较大;同时硅片的制作大多会用到扩散工艺形成PN 结,目前业内常用的扩散工艺一般采用纸源一次全扩散或者采用磷、硼两次扩散,由于纸源在烧结后硅片间间隙增大,导致挥发磷源扩散至硼面造成返源;两次扩散的方式工艺制作繁琐,在一面磷扩散后,另一面需要喷砂或者化学减薄去除反源量,再进行硼扩散,成本高,扩散效率低,而且容易造成碎片。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供一种FRGPP芯片玻钝前多重扩散工艺。
本发明提供了一种FRGPP芯片玻钝前多重扩散工艺,包括如下步骤:
S1磷硼一次扩散制绒,对扩散前处理后的硅片一面扩散磷扩散源,另一面扩散硼扩散源或硼铝扩散源,并进行硅片制绒;
S2铂扩散,对磷硼一次扩散制绒后的硅片扩散铂扩散源。
其中,所述S2步骤铂扩散包括步骤:
S2-1铂扩散前处理,对磷硼一次扩散制绒后的硅片打砂并清洗;
S2-2铂扩散,对铂扩散前处理后的硅片单面铂扩散;
S2-3铂扩散后检验,对铂扩散后的硅片进行trr测试;
优选地,所述铂扩散前处理包括扩硼面单面打砂。
优选地,所述S2-2步骤铂扩散包括步骤:
S2-2-1涂铂扩散源:采用涂源工艺对打砂面涂铂扩散源并烘干;
S2-2-2常压扩散:所述硅片置于扩散炉内,所述扩散炉维持常压。
优选地,所述S2-3步骤铂扩散后检验的检验标准是0.035μs≤trr≤0.50μs。
其中,所述S1步骤磷硼一次扩散制绒,包括步骤:
S1-1扩散前处理,对硅片进行减薄;
S1-2磷硼一次扩散,对扩散前处理的硅片一面扩散磷扩散源,另一面扩散硼扩散源或硼铝扩散源,放入炉内扩散;
S1-3制绒,使得硅片表面的粗糙度增加,为硅片后续玻钝工艺中保护胶的涂覆提供涂覆基础。
优选地,所述S1-2步骤磷硼一次扩散,具体包括步骤:
S1-2-1印刷磷硼扩散源,采用丝网印刷技术对扩散前处理后的所述硅片一面印刷磷扩散源,另一面印刷硼扩散源或硼铝扩散源,每印刷完一面所述硅片均需进行烘干;
S1-2-2将所述硅片两面喷洒上Al2O3粉末或硅粉;
S1-2-3低压扩散,所述硅片置于扩散炉内,将所述扩散炉内气压抽至负压;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津环鑫科技发展有限公司,未经天津环鑫科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711059107.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种采用印刷工艺制作FRGPP芯片的方法
- 下一篇:形成集成电路的方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造