[发明专利]一种零频率温度系数及超低损耗的低介电常数微波介质陶瓷及其制备方法有效
申请号: | 201711066157.4 | 申请日: | 2017-11-02 |
公开(公告)号: | CN107805067B | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | 党明召;任海深;谢天毅;彭海益;姜少虎;姚晓刚;赵相毓;林慧兴 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | C04B35/495 | 分类号: | C04B35/495;C04B35/622 |
代理公司: | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲;郑优丽 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 频率 温度 系数 损耗 介电常数 微波 介质 陶瓷 及其 制备 方法 | ||
1.一种低介电常数、超低介电损耗的微波介质陶瓷,其特征在于,所述微波介质陶瓷的化学通式为xMg2SiO4-(1-x)MgTa2O6+ y wt% B,所述B为ZnO、CuO、Al2O3、Ga2O3、TiO2、ZrO2、SnO2、MnO2、Nb2O5、Sb2O5和WO3中的至少一种;其中x代表Mg2SiO4占Mg2SiO4和MgTa2O6总摩尔量的百分数,y代表B占Mg2SiO4和MgTa2O6的总质量的百分数;其中,0.5≤x≤0.7、1≤y≤3,x=0.5、y=0,x=0.6、y=0,或x=0.7、y=0;
当0.5≤x≤0.7,1≤y≤3时,所述微波介质陶瓷的介电常数为12.1~15.2,品质因数
当x=0.5、y=0时,所述微波介质陶瓷的介电常数为15.2,品质因数
当x=0.6、y=0时,所述微波介质陶瓷的介电常数为13.8,品质因数
当x=0.7、y=0时,所述微波介质陶瓷的介电常数为12.1,品质因数
所述微波介质陶瓷的制备方法包括:
将Mg2SiO4粉体和 MgTa2O6粉体按xMg2SiO4-(1-x)MgTa2O6化学计量组成称量并混合,得到混合粉体;
在所得混合粉体中加入B和粘结剂,经破碎,造粒和成型后,得到坯体;
将所得坯体在1300~1450 ℃下烧结4~16 h,得到所述微波介质陶瓷。
2.根据权利要求1所述的微波介质陶瓷,其特征在于,所述微波介质陶瓷的介电常数为13~15,品质因数
3.根据权利要求1所述的微波介质陶瓷,其特征在于,以MgO、Ta2O5、SiO2为原料,分别预先合成Mg2SiO4粉体和 MgTa2O6粉体。
4.根据权利要求3所述的微波介质陶瓷,其特征在于,将MgO和SiO2混合后,在1000~1250℃下煅烧4~12h,得到Mg2SiO4。
5.根据权利要求3所述的微波介质陶瓷,其特征在于,将MgO和Ta2O5混合后,在1000~1250℃下煅烧4~12h,得到MgTa2O6粉体。
6.根据权利要求1所述的微波介质陶瓷,其特征在于,所述B的质量为混合粉体质量的1~3 wt%。
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