[发明专利]一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法

权利要求书

1.一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，其特征在于：它包括以下步骤：

步骤一：根据设计参数，建立继电器的仿真模型，并以此实现继电器动态特性仿真；

步骤二：根据步骤一中继电器动态特性仿真的结果，构建可反映继电器输出特性X与n个设计参数P之间函数关系的输出特性快速计算模型；

步骤三：应用蒙特卡洛抽样方法，在设计参数P_i的公差范围内进行随机抽样得到m个参数值，i＝1，2，…n；并将所述m个参数值分别代入步骤二所述的输出特性快速计算模型中，计算得到m个继电器输出特性X_ij的值，j＝1，2，…m；

步骤四：对步骤三所得到的对应于各设计参数P_i的继电器输出特性X_ij进行分布拟合，将n个设计参数所对应的输出特性X_ij的分散程度由大到小进行排列，得到n个设计参数对继电器输出特性的影响程度排序；

步骤五：通过步骤四所述的影响程度排序，选出影响程度最大的前k个设计参数；

步骤六：对步骤五所选出的k个设计参数P′在贮存过程中的退化程度进行分析，确定其在最长贮存期时对应的退化量；

步骤七：以步骤六所述的退化量为中心值，通过设计参数P′的设计公差确定波动范围上下限，在此范围内进行蒙特卡洛抽样，得到m个参数值，将所述的m个参数值分别代入步骤二所述的输出特性快速计算模型中，计算得到对应每个选定设计参数的m个继电器输出特性X′_ij的值，i＝1，2，…k；j＝1，2，…m；

步骤八：对步骤七所得到的对应于各设计参数P′_i的继电器输出特性X′_ij进行分布拟合，并根据失效阈值，计算对应于设计参数P′_i贮存退化与公差范围的可靠度R_i；

式中，D_U，D_L分别表示输出特性对应的失效阈值上下限；f(X′_i)表示通过分布拟合得到的输出特性分布概率密度函数；

步骤九：对步骤八所得到的可靠度R_i进行排序，确定最小R_i所对应的设计参数即为导致继电器贮存退化的内部关键因素。