[发明专利]一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法

说明书

一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，包括如下步骤：建立继电器动态特性仿真模型；基于动态特性仿真建立继电器输出特性快速计算模型；通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；按照拟合结果分散程度筛选出对输出特性影响大的前若干个设计参数；确定选定设计参数最长贮存期对应的退化量；以该退化量为中心值，通过蒙特卡洛方法及输出特性快速计算模型计算并拟合继电器输出特性分布；计算继电器的可靠度，并以可靠度大小为指标确定导致其贮存退化的内部关键因素。本发明可对继电器输出特性进行快速、准确计算。解决了在进行继电器贮存可靠性设计与优化时，难以准确界定导致其贮存退化关键因素的问题。

技术领域

本发明涉及一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，属于继电器产品性能分析技术领域。

背景技术

随着可靠性技术的发展，产品的贮存过程对其功能、性能以及可靠性的影响逐渐引起了广泛的重视。在许多产品的寿命周期中，非工作的贮存状态往往比工作状态所占的时间更多。尤其是对于航空、航天以及武器装备等领域的一次使用型产品，非工作的贮存状态贯穿了产品的整个寿命周期。对于长期贮存状态下的继电器来说，在贮存过程中的温度、湿度、振动等环境应力的综合作用下，其内部零部件在形状、尺寸及材料属性等方面均可能发生变化，从而导致其性能发生退化。因此，确定导致继电器性能发生贮存退化的原因并开展贮存可靠性设计与优化是提高继电器贮存可靠性的有效手段。

在进行继电器产品贮存可靠性设计与优化时，通常需要首先确定导致继电器性能退化的最为关键的内部因素，进而对其加以控制来实现提高产品贮存可靠性的目的。而在实际的操作过程中，某些因素的波动虽然对继电器的性能影响较大，但是在实际的贮存过程中，其退化程度却不及其他对性能影响较小的因素。因此，难以衡量各因素综合影响程度的高低。同时，在生产成本和技术条件的约束下，一般无法实现对所有因素的严格控制。因而如何准确确定导致继电器性能退化的最为关键的若干内部因素，是进行继电器产品贮存可靠性设计与优化时所面临的紧要问题。

发明内容

本发明的目的是为了解决在进行继电器产品贮存可靠性设计与优化时，如何准确确定导致继电器性能退化的内部关键因素这一问题，提出了一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法。

本发明通过对继电器进行动态特性仿真以及输出特性的快速计算建模，实现对各项内部因素对输出特性影响程度的分析；同时，结合各内部因素在最长贮存期时的贮存退化程度，以此时的继电器可靠度为指标，实现对各因素的影响程度和退化程度进行综合考虑，从而达到确定导致继电器贮存退化关键因素的目的。

本发明的一种导致继电器贮存退化的内部关键因素的分析方法，它包括以下步骤：

步骤一：根据设计参数，建立继电器的仿真模型，并以此实现继电器动态特性仿真；

步骤二：根据步骤一中继电器动态特性仿真的结果，构建可反映继电器输出特性X与n个设计参数P之间函数关系的输出特性快速计算模型；

步骤三：应用蒙特卡洛抽样方法，在设计参数P_i(i＝1,2,…n)的公差范围内进行随机抽样得到m个参数值，并将所述m个参数值分别代入步骤二所述的输出特性快速计算模型中，计算得到m个继电器输出特性X_ij(j＝1,2,…m)的值；

步骤四：对步骤三所得到的对应于各设计参数P_i的继电器输出特性X_ij进行分布拟合，将n个设计参数所对应的输出特性X_ij的分散程度由大到小进行排列，得到n个设计参数对继电器输出特性的影响程度排序；

步骤五：通过步骤四所述的影响程度排序，选出影响程度最大的前k个设计参数；

步骤六：对步骤五所选出的k个设计参数P′在贮存过程中的退化程度进行分析，确定其在最长贮存期时对应的退化量；