[发明专利]一种有机发光器件结构及其内部温度监测方法

说明书

本申请公开了一种有机发光器件结构，包括：基板、形成于基板上的电极和有机器件，以及封装结构，所述封装结构包括至少三层且其中一层为无机半导体层，所述无机半导体层与所述有机器件间隔至少一层绝缘层；所述无机半导体层电连接至所述封装结构外部。基于此设计，当有机发光器件的某些区域产生较高的温度时，过高的温度会影响无机半导体层的实际电阻值，通过控制单元持续测定无机半导体层的电阻阻值，并通过查找该无机半导体层的电阻‑温度曲线，即可获得无机半导体层的实时温度值，也即有机发光器件的内部温度值。

技术领域

本公开一般涉及电子显示技术领域，具体涉及一种有机发光器件结构及其内部温度监测方法。

背景技术

OLED(Organic Light-Emitting Diode)，有机发光二极管又称为有机电激光显示，其基本原理为采用非常薄的有机材料涂层和玻璃基板，当有电流通过时，有机材料就会发光，即其具有自发光的特性。与传统的LCD显示方式不同，其无需背光灯，能够节省电能，此外，OLED显示屏幕可以做得更轻更薄，可视角度更大。不过，虽然OLED具有以上优点，但就现阶段而言，有机发光显示技术还存在使用寿命短、屏幕大型化难等缺陷。

单就使用寿命短而言，现有技术中对OLED屏体进行特殊测试时(例如加速老化测试过程)需要对OLED进行高亮度点屏。测试过程中，屏体上的某些区域会产生较高的温度，而过高的温度会影响OLED屏体显示效果，甚至会损坏屏体。因此，在高亮度点屏时需要检测屏体温度，并根据屏体温度调整驱动电压从而对屏体亮度进行及时调整。

目前，大多依靠外界测温仪(如扫描温度显微镜(SThM)，拉曼光谱等)检测屏体温度受到屏体玻璃界面导热特性的影响，这些外界测温仪一方面测试精度较低，要想实现高精度测量，还需要配备相关对位聚焦装置等；另一方面设备复杂，不易实时监测，亟待改进。此外，外界测温仪基本测量的是屏体表面的温度，但屏体内部有机发光层的温度并不能实时检测，但该部分的温度才是影响器件性能的重点参数。

发明内容

第一方面，鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种相较于现有技术而言，能够便于实时监测屏体内部温度变化的有机发光器件结构。

一种有机发光器件结构，包括：基板、形成于基板上的电极和有机器件，以及封装结构，所述封装结构包括至少三层且其中一层为无机半导体层，所述无机半导体层与所述有机器件间隔至少一层绝缘层；所述无机半导体层电连接至所述封装结构外部。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述无机半导体层的厚度大于100nm。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述无机半导体层的厚度大于1μm。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述无机半导体层为Si、SiO2、TiO₂、Ge或硅锗合金，所述无机半导体层与所述电极相搭接。所述无机半导体通过掩膜工艺与电极进行搭接。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述绝缘层为有机或无机材料。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述无机半导体层远离所述有机器件的一侧设有封装层。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述绝缘层、无机半导体层或封装层分别至少包括一层。

第二方面，鉴于现有技术中的上述缺陷或不足，期望提供一种相较于现有技术而言，能够简易且实时地实现实时监测器件内部温度变化的有机发光器件内部温度监测方法。

第二方面，一种有机发光器件内部温度监测方法，包括如下步骤：

S1：获取无机半导体层的电阻-温度曲线并内置于控制单元中；

S2：将第一方面的技术方案所述有机发光器件的无机半导体层与控制单元电连接；