[发明专利]一种测试方法在审

专利信息
申请号: 201711100092.0 申请日: 2017-11-09
公开(公告)号: CN108020772A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: 潘照荣;张坤 申请(专利权)人: 晶晨半导体(上海)股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/067
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 俞涤炯
地址: 201203 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种测试方法,其特征在于,提供一测试设备以测试待测主板,所述待测主板具有一独立接口,所述独立接口包括接地触点、电源触点、数据触点,所述测试设备包括分别对应于所述接地触点、电源触点、数据触点接地探针、供电探针、数据探针,所述测试方法包括以下步骤:

步骤S1、将所述待测主板放置在所述测试设备的测试工位上;

步骤S2、先使所述接地探针接触所述待测主板,以消除所述待测主板与所述测试设备之间的地电位差;

步骤S3、再使所述供电探针接触所述待测主板,以稳定所述待测主板的电压;

步骤S4、然后使所述数据探针接触所述待测主板,以对所述待测主板进行测试。

2.如权利要求1所述的测试方法,其特征在于,所述接地探针、供电探针、数据探针固定于一测试模块上;

所述测试模块设置于所述测试工位的上方;

所述测试模块于测试时压向所述待测主板,以使所述接地探针、供电探针、数据探针接触所述待测主板。

3.如权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述接地探针、供电探针、数据探针可伸缩。

4.如权利要求3所述的测试方法,其特征在于,相较于所述测试模块,所述接地探针高于所述供电探针,并且所述供电探针高于所述数据探针;

于所述测试模块压向所述待测主板时所述接地探针、供电探针、数据探针依次接触所述待测主板。

5.如权利要求2所述的测试方法,其特征在于,所述测试设备包括:

驱动装置,连接所述测试模块,所述驱动装置用于在测试时驱动所述测试模块压向所述待测主板,以及在测试结束时驱动所述测试模块回到初始位置。

6.如权利要求5所述的测试方法,其特征在于,所述测试设备包括:

控制器,连接所述驱动装置,用于控制所述驱动装置完成相应的驱动动作。

7.如权利要求5所述的测试方法,其特征在于,所述驱动装置为气动机械结构。

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