[发明专利]一种测试方法

说明书

本发明公开了一种测试方法，属于嵌入式设备生产技术领域，提供一测试设备以测试待测主板，待测主板具有独立接口，独立接口包括接地触点、电源触点、数据触点，测试设备包括分别对应于接地触点、电源触点、数据触点接地探针、供电探针、数据探针，测试方法包括以下步骤：将待测主板放置在测试设备的测试工位上；先使接地探针接触待测主板，消除待测主板与测试设备间的地电位差；再使供电探针接触待测主板，稳定待测主板电压；然后使数据探针接触待测主板。上述技术方案的有益效果是：设置测试设备的探针接触待测产品的顺序，来消除测试设备和待测产品之间的电压差，从而避免测试时待测产品与测试设备之间的地电位不平衡造成的器件损坏。

技术领域

本发明涉及嵌入式设备生产技术领域，尤其涉及一种测试方法。

背景技术

嵌入式设备主要由嵌入式处理器和相关支撑硬件构成的主板和嵌入式软件系统组成。在嵌入式设备主板生产过程中静电放电问题存储在于生产的各个阶段中，容易导致产品损坏。特别是在测试阶段，对于具有独立USB接口的主板，通过4个探针(USB_5V、USB_D+、USB_D-、USB_GND)同时连接待测主板的USB接口的对应触点，由于待测主板与测试设备的地电位不平衡，很容易造成待测主板与测试设备之间存在电位差，进而损坏待测主板上的相关器件。

现有技术中，针对待测主板与测试设备之间的地电位不平衡的问题，通常要求产线工作人员在操作待测主板是佩戴防静电设备，以尽量避免待测主板携带静电，但是不能完全解决待测主板与测试设备之间的地电位不平衡的问题；或者选择对产线进行改造，或在嵌入式设备主板和测试设备上增加ESD器件，来避免对待测主板与测试设备之间的地电位不平衡造成的器件损坏，但是成本高，并且不具备适用性。

发明内容

根据现有技术中存在的上述问题，现提供测试方法，通过改变测试设备的不同功能的探针接触待测主板的顺序来解决待测主板与测试设备之间的地电位不平衡造成的器件损坏的问题。本发明采用如下技术方案：

一种测试方法，提供一测试设备以测试待测主板，所述待测主板具有一独立接口，所述独立接口包括接地触点、电源触点、数据触点，所述测试设备包括分别对应于所述接地触点、电源触点、数据触点接地探针、供电探针、数据探针，所述测试方法包括以下步骤：

步骤S1、将所述待测主板放置在所述测试设备的测试工位上；

步骤S2、先使所述接地探针接触所述待测主板，以消除所述待测主板与所述测试设备之间的地电位差；

步骤S3、再使所述供电探针接触所述待测主板，以稳定所述待测主板的电压；

步骤S4、然后使所述数据探针接触所述待测主板，以对所述待测主板进行测试。

较佳的，上述测试方法中，所述接地探针、供电探针、数据探针固定于一测试模块上；

所述测试模块设置于所述测试工位的上方；

所述测试模块于测试时压向所述待测主板，以使所述接地探针、供电探针、数据探针接触所述待测主板。

较佳的，上述测试方法中，所述接地探针、供电探针、数据探针可伸缩。

较佳的，上述测试方法中，相较于所述测试模块，所述接地探针高于所述供电探针，并且所述供电探针高于所述数据探针；

于所述测试模块压向所述待测主板时所述接地探针、供电探针、数据探针依次接触所述待测主板。

较佳的，上述测试方法中，所述测试设备包括：

驱动装置，连接所述测试模块，所述驱动装置用于在测试时驱动所述测试模块压向所述待测主板，以及在测试结束时驱动所述测试模块回到初始位置。

较佳的，上述测试方法中，所述测试设备包括：