[发明专利]基于二维电子气的MEMS高温压力传感器及其制备方法在审
申请号: | 201711103665.5 | 申请日: | 2017-11-10 |
公开(公告)号: | CN107957304A | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 张明亮;季安;王晓东;杨富华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01L1/22 | 分类号: | G01L1/22;G01L9/06 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 二维 电子 mems 高温 压力传感器 及其 制备 方法 | ||
1.一种基于二维电子气的MEMS压力传感器,包括:衬底和玻璃板,其中所述衬底的背面有一背腔,所述衬底的背面与所述玻璃板键合,所述背腔与所述衬底的正面之间的部分构成感压薄膜,所述感压薄膜上设置有二维电子气层形成的压敏电阻条,所述感压薄膜和所述压敏电阻条上设置有绝缘层,所述压敏电阻条两端的绝缘层被刻蚀形成电学接触孔,所述压敏电阻条两端和所述电学接触孔上沉积有第一金属层,所述第一金属层上设置有第二金属层,所述第二金属层形成电学互联引线和压焊块。
2.如权利要求1所述的MEMS压力传感器,其特征在于,所述衬底选自硅片上镓氮铝镓氮,宝石衬底上镓氮铝镓氮。
3.如权利要求1所述的MEMS压力传感器,其特征在于,所述压敏电阻条的形状是直线、折线或多折曲线,构成惠斯通电桥或半桥、或单独使用。
4.如权利要求1所述的MEMS压力传感器,其特征在于,所述绝缘层的材料选自二氧化硅或氮化硅。
5.如权利要求1所述的MEMS压力传感器,其特征在于,所述第一金属层的材料选自Ti、Ni、Al、Au、Pt、Pd、Mo、W、Ta中的一种或几种、或其组合合金,优选地,所述第二金属层的材料为铝、铜、锡、金或者它们的合金。
6.如权利要求1所述的MEMS压力传感器,其特征在于,所述玻璃板无孔,背腔处于真空,形成绝压芯片;或者玻璃有通孔,构成差压芯片。
7.权利要求1-6中任一项所述MEMS压力传感器的制备方法,包括:
步骤1:在正面具有二维电子气层的衬底上进行光刻,定义压敏电阻条的形状和位置,通过刻蚀电学隔离二维电子气层,形成压敏电阻条;
步骤2:在所述衬底的正面生长绝缘层,用于钝化保护所述压敏电阻条;
步骤3:进行正面光刻,刻蚀所述绝缘层,在所述压敏电阻条的两端形成电学接触孔;
步骤4:淀积第一金属层,合金退火,使所述第一金属层与所述压敏电阻条形成欧姆接触,所述第一金属层为耐高温金属层;
步骤5:在所述第一金属层上形成第二金属层,用于形成电学互联引线及压焊块;
步骤6:背面衬底减薄,再生长一掩膜层;
步骤7:进行背面光刻,刻蚀所述掩膜层,再深刻蚀形成一背腔,获得感压薄膜;
步骤8:将玻璃板与衬底的背面对准键合。
8.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤2中的所述绝缘层通过PECVD、LPCVD或APCVD来形成。
9.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述第一金属层和第二金属层通过电子束蒸发或磁控溅射形成。
10.如权利要求7所述的制备方法,其特征在于,步骤6中采用研磨抛光工艺进行衬底减薄,所述掩模层是介质层或金属层。
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