[发明专利]一种晶振抓取测试分类装置

权利要求书

1.一种晶振抓取测试分类装置，包括机架（5），其特征在于：所述机架（5）表面固定连接有取料机构（1），其取料机构（1）底部固定连接有电机连接杆（2），且电机连接杆（2）底部固定连接有取料驱动电机（3），所述取料机构（1）右侧设置有分料盒（4），且分料盒（4）表面设置有入料口（16），所述分料盒（4）前端设置有分度转盘（10），其分度转盘（10）底部设置有升降机构（12），且升降机构（12）侧面设置有测试针（11），所述分度转盘（10）表面设置有测试夹具（9），且分度转盘（10）底部设置有分度器（21），所述分度转盘（10）右侧设置有抓取放入机构（8），且抓取放入机构（8）底部设置有移动槽（19），所述移动槽（19）内部设置有连接杆（17），且连接杆（17）右侧设置有驱动电机（18），所述移动槽（19）底部固定连接有固定柱（20），所述抓取放入机构（8）右侧设置有供料器底座（7），且供料器底座（7）顶部设置有供料器（6），所述供料器（6）底部侧面固定连接有供料器固定片（15），其供料器（6）内部设置有供料盘（13），且供料盘（13）中间设置有转轴（14），所述测试夹具（9）中间设置有螺丝（23），且螺丝（23）外侧设置有晶体安放槽（22），所述取料机构（1）侧面固定连接有取料头（24）。

2.根据权利要求1所述的一种晶振抓取测试分类装置，其特征在于：所述抓取放入机构（8）为双驱动结构，且抓取放入机构（8）通过连接杆（17）构成伸缩连接结构。

3.根据权利要求1所述的一种晶振抓取测试分类装置，其特征在于：所述测试夹具（9）的数量为8-16个，且测试夹具（9）于分度转盘（10）表面呈环状分布。

4.根据权利要求1所述的一种晶振抓取测试分类装置，其特征在于：所述测试夹具（9）通过螺丝（23）与分度转盘（10）采用螺栓固定连接方式相连接。

5.根据权利要求1所述的一种晶振抓取测试分类装置，其特征在于：所述分度转盘（10）通过分度器（21）与机架（5）构成旋转结构，且分度转盘（10）每次的旋转角度与测试夹具（9）之间的角度相同。

6.根据权利要求1所述的一种晶振抓取测试分类装置，其特征在于：所述供料盘（13）为螺旋状结构，且供料盘（13）与供料器（6）采用旋转活动连接方式相连接。

7.根据权利要求1所述的一种晶振抓取测试分类装置，其特征在于：所述入料口（16）与取料头（24）分布于同一平面，且入料口（16）呈等距分布。