[发明专利]一种晶振抓取测试分类装置

说明书

技术领域

本发明涉及晶振测试分类技术领域，具体为一种晶振抓取测试分类装置。

背景技术

晶振是石英晶体振荡器的简称，晶振是利用石英晶体（二氧化硅）的压电效应制成的一种谐振器件，晶振的生产过程是从一块石英晶体上按一定方位角切下薄片（简称为晶片，它可以是正方形、矩形或圆形等），在它的两个对应面上涂敷银层作为电极，在每个电极上各焊一根引线接到管脚上，再对其进行调频和封装，并在封装内部添加IC组成振荡电路的晶体元件制成晶体振荡器，而在这一过程中需要对晶体进行抓取、测试和筛分。

目前现有的抓取、测试和筛分的过程都是分开进行的，这样的操作过程比较麻烦，且分开进行时可能造成晶体的遗漏，和分类的错误，且工作效率不高。

发明内容

本发明的目的在于提供一种晶振抓取测试分类装置，以解决上述背景技术中提出的现有的抓取、测试和筛分的过程都是分开进行的，这样的操作过程比较麻烦，且分开进行时可能造成晶体的遗漏，和分类的错误，且工作效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种晶振抓取测试分类装置，包括机架，所述机架表面固定连接有取料机构，其取料机构底部固定连接有电机连接杆，且电机连接杆底部固定连接有取料驱动电机，所述取料机构右侧设置有分料盒，且分料盒表面设置有入料口，所述分料盒前端设置有分度转盘，其分度转盘底部设置有升降机构，且升降机构侧面设置有测试针，所述分度转盘表面设置有测试夹具，且分度转盘底部设置有棘齿分度器，所述，所述分度转盘右侧设置有抓取放入机构，且抓取放入机构底部设置有移动槽，所述移动槽内部设置有连接杆，且连接杆右侧设置有驱动电机，所述移动槽底部固定连接有固定柱，所述抓取放入机构右侧设置有供料器底座，且供料器底座顶部设置有供料器，所述供料器底部侧面固定连接有供料器固定片，其供料器内部设置有供料盘，且供料盘中间设置有转轴，所述测试夹具中间设置有螺丝，且螺丝外侧设置有晶体安放槽，所述取料机构侧面固定连接有取料头。

优选的，所述抓取放入机构为双驱动结构，且抓取放入机构通过连接杆构成伸缩连接结构。

优选的，所述测试夹具的数量为15个，且测试夹具于分度转盘表面呈环状分布。

优选的，所述测试夹具通过螺丝与分度转盘采用螺栓固定连接方式相连接。

优选的，所述分度转盘通过棘齿分度器与机架构成旋转结构，且分度转盘每次的旋转角度与测试夹具之间的角度相同。

优选的，所述供料盘为螺旋状结构，且供料盘与供料器采用旋转活动连接方式相连接。

优选的，所述入料口与取料头分布于同一平面，且入料口呈等距分布。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该晶振抓取测试分类装置为一个整体结构，可以通过一到套程序实现抓取、测试和筛分的过程，这使得工作效率更高，且错误率更低。该装置的抓取放入机构为双驱动结构，且抓取放入机构通过连接杆构成伸缩连接结构，这使得对晶体的抓取更快速，且更准确，该装置的测试夹具的数量为15个，且测试夹具于分度转盘表面呈环状分布，这样使得该装置可以实现一个循环，使得工作效率更高，不会浪费动力，该装置的测试夹具通过螺丝与分度转盘采用螺栓固定连接方式相连接，这样使得测试夹具更稳固，避免在长时间的工作过程中发生脱落的情况，使用寿命更长，该装置的分度转盘通过棘齿分度器与机架构成旋转结构，且分度转盘每次的旋转角度与测试夹具之间的角度相同，这使得抓取、测试和筛分的过程可以更准确，避免发生错位，该装置的供料盘为螺旋状结构，且供料盘与供料器采用旋转活动连接方式相连接，这样可以实现材料的自动运输，使得工作过程更方便，快速，该装置的入料口与取料头分布于同一平面，且入料口呈等距分布，这样在分类的过程更快速，更准确。

附图说明

图1为本发明一种晶振抓取测试分类装置的结构示意图；

图2为本发明一种晶振抓取测试分类装置的供料器结构示意图；

图3为本发明一种晶振抓取测试分类装置的分料盒结构示意图；

图4为本发明一种晶振抓取测试分类装置的抓取放入机构结构示意图；

图5为本发明一种晶振抓取测试分类装置的分度转盘结构示意图；

图6为本发明一种晶振抓取测试分类装置的测试夹具示意图。