[发明专利]一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法

权利要求书

1.一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法，其特征在于，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：

步骤1，选取一所述测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；

步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤4，使所述RFID标签读写器以一初始调制深度向一待测试芯片发送启动查询命令；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；

步骤6，如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长调整所述RFID标签读写器的调制深度至可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的临界值；

步骤7，记录所述临界值；

步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤8，直至所有所述测试用例测试完毕。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述待测试芯片为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，还包括一环形器，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述第环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第二端口，所述待测试芯片通过馈线连接所述环形器的第三端口。

6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述初始调制深度为100％。

7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述预定步长为5％。

8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述临界值的确定方法为，如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长降低所述RFID标签读写器的调制深度，至无法接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，记录最后一次接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的调制深度作为所述临界值。