[发明专利]一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法

说明书

本发明公开了一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法，包括，使所述RFID标签读写器以一初始调制深度向一待测试芯片发送启动查询命令；如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长调整所述RFID标签读写器的调制深度至可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的临界值；记录所述临界值。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID芯片的调制深度的容忍度进行有效的测试。

技术领域

本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法。

背景技术

射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。

现有的射频标签技术中，无源UHF RFID(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对无源UHF RFID的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的无源UHF RFID被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。

由于UHF RFID标签的芯片是其主要工作部件，因此如何对UHF RFID芯片提供一系列有效的测试方法，成为业界的课题。

发明内容

针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法。

为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法，其中，提供一RFID标签读写器以及一射频信号分析装置，根据测试项目定义复数个测试用例，还包括以下步骤：

步骤1，选取一所述测试用例；

步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述RFID标签读写器参数；

步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；

步骤4，使所述RFID标签读写器以一初始调制深度向一待测试芯片发送启动查询命令；

步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述RFID标签读写器与所述待测试芯片通信过程中的射频信号；

步骤6，如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长调整所述RFID标签读写器的调制深度至可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的临界值；

步骤7，记录所述临界值；

步骤8，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤8，直至所有所述测试用例测试完毕。

本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。

本发明的另一方面，所述RFID标签读写器的工作频率为920MHz～925MHz。

本发明的另一方面，所述待测试芯片为COB封装芯片，所述COB封装芯片包括匹配网络和巴伦，0欧姆电阻及功能芯片。

本发明的另一方面，还包括一环形器，所述射频信号分析装置通过馈线连接所述第环形器的第一端口，所述RFID标签读写器通过馈线连接所述环形器的第二端口，所述待测试芯片通过馈线连接所述环形器的第三端口。

本发明的另一方面，所述初始调制深度为100％。

本发明的另一方面，所述预定步长为5％。