[发明专利]一种用于恒深度纳米划痕实验的调平方法有效

专利信息
申请号: 201711132223.3 申请日: 2017-11-15
公开(公告)号: CN107907398B 公开(公告)日: 2020-05-19
发明(设计)人: 杨庆生;刘志远;刘扶庆;郭志明 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01N1/36 分类号: G01N1/36;G01N3/42;G01N3/02
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 沈波
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 用于 深度 纳米 划痕 实验 平方
【权利要求书】:

1.一种用于恒深度纳米划痕实验的调平方法,具体步骤如下:首先将被测试样镶嵌在第二圆柱形容置洞(16)中,通过研磨、抛光,使得被测试样上表面同试样杯(15)上边缘在同一平面;将试样杯(15)装入第一圆柱形容置洞(2)中,通过螺栓连接台体(1)上的连接孔(19,20,21,22)与盖板(17)上的连接孔(23,24,25,26),用扭矩螺丝刀顶紧所有通孔(3,4,5,6,7,8,11,12,13,14)中顶丝;卸掉盖板(17),将台体(1)放入纳米压痕仪的卡台中,通过显微镜观察微尺度正方形待测区域;微尺度正方形待测区域边长为100微米至500微米;

分别聚焦待测区域水平左右侧中心点A和B,当A高于B时,用螺丝刀顶紧第三通孔(5)的顶丝直到A和B同高,当A低于B时,用螺丝刀顶紧第五通孔(7)的顶丝直到A和B同高;分别聚焦待测区域上下侧中心点C和D,当观察到C高于D时,用普通螺丝刀顶紧第七通孔(11)中顶丝直到C和D同高;当观察到C低于D时,用普通螺丝刀顶紧第八通孔(12)中顶丝直到C和D同高;

台体(1)为调平台的主体结构,台体(1)的上部中心处开有第一圆柱形容置洞(2),台体(1)与第一圆柱形容置洞(2)之间开有第一通孔(3)和第四通孔(6),第一通孔(3)的径向和第四通孔(6)的径向之间的夹角为90°;与第一通孔(3)对侧的第一圆柱形容置洞(2)上设有第二通孔(4)、第三通孔(5),与第四通孔(6)对侧的第一圆柱形容置洞(2)上设有第五通孔(7)和第六通孔(8);台体(1)的下部中心处开有矩形容置洞(10),矩形容置洞(10)内均布有第七通孔(11)、第八通孔(12)、第九通孔(13)和第十通孔(14);通孔内均布有螺纹,螺纹与顶丝相配合;试样杯(15)放置在第一圆柱形容置洞(2)内,试样杯(15)与第一圆柱形容置洞(2)等高,试样杯(15)的外直径小于第一圆柱形容置洞(2)的内直径,试样杯(15)的上部中心开有第二圆柱形容置洞(16);盖板(17)的中心处开有观察窗(18);台体(1)的四角处开有连接孔(19,20,21,22),盖板(17)的四角处开有连接孔(23,24,25,26),台体(1)的连接孔(19,20,21,22)与盖板(17)的连接孔(23,24,25,26)通过螺栓连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于恒深度纳米划痕实验的调平方法,具体步骤如下:扭矩螺丝刀使用扭矩不大于0.4牛·米。

3.根据权利要求1所述的一种用于恒深度纳米划痕实验的调平方法,具体步骤如下:

调平Ni3Al典型区域,降低被测区不垂直压入方向引起的误差,具体实施如下,

首先将焊接完的Ni、Al材料镶嵌在第二圆柱形容置洞(16)中,保证被测典型Ni3Al区域朝上,并高于试样杯边缘1毫米;通过研磨、抛光,使得被测试样上表面同试样杯上边缘在同一平面;将试样杯装入第一圆柱形容置洞(2),通过螺栓连接台体上的连接孔与盖板上的连接孔,用扭矩螺丝刀顶紧所有通孔中顶丝;卸掉盖板,将台体放入纳米压痕仪的卡台中,通过显微镜观察150微米×150微米待测区域;分别聚焦待测区域左右侧中心点A和B,当A高于B时,用普通螺丝刀顶紧通孔顶丝直到AB同高,当A低于B时,用普通螺丝刀顶紧通孔顶丝直到AB同高;分别聚焦待测区域上下侧中心点C和D,当观察到C高于D时,用普通螺丝刀顶紧通孔中顶丝直到C D同高;当观察到C低于D时,用普通螺丝刀顶紧通孔中顶丝直到C D同高;定位待测区域中心位置,测得Ni3Al弹性模量比文献高15%,说明由于被测材料不垂直压入方向确实使得测得弹性模量偏小。

4.根据权利要求1所述的一种用于恒深度纳米划痕实验的调平方法,具体步骤如下:调平关节软骨典型区域,使其符合恒深度划痕要求,具体实施如下,

首先将关节软骨镶嵌在第二圆柱形容置洞(16)中,保证包含骨-钙化骨-关节软骨的复合区域朝上,并高于试样杯边缘2毫米;通过研磨、抛光,使得测试面同试样杯上边缘在同一平面;将试样杯装入第一圆柱形容置洞(2),通过螺栓连接台体上的连接孔与盖板上的连接孔,用扭矩螺丝刀顶紧所有通孔中顶丝;卸掉盖板,将台体放入纳米压痕仪的卡台中,通过显微镜观察200微米×200微米待测区域;分别聚焦待测区域左右侧中心点A和B,当A高于B时,用普通螺丝刀顶紧通孔顶丝直到AB同高,当A低于B时,用普通螺丝刀顶紧通孔顶丝直到AB同高;分别聚焦待测区域上下侧中心点C和D,当观察到C高于D时,用普通螺丝刀顶紧通孔中顶丝直到C D同高;当观察到C低于D时,用普通螺丝刀顶紧通孔中顶丝直到C D同高;定位待测区域左边界进行一系列平行的恒深度划痕,观察测得结果稳定,无跳点和断点,说明此发明适用于纳米压痕法恒深度划痕之前的调平。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711132223.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top