[发明专利]一种异常LED芯粒的挑除方法及挑除系统

权利要求书

1.一种异常LED芯粒的挑除方法，其特征在于，包括：

将多个LED芯粒设置于UV失粘膜表面，并将设置有多个LED芯粒的UV失粘膜放置于光电性能测试设备的承托盘表面，所述承托盘为透明材质的承托盘；

利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并透过所述承托盘对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理；

在多个所述LED芯粒背离所述UV失粘膜一侧设置蓝膜；

分离所述蓝膜与多个所述LED芯粒。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并透过所述承托盘对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理包括：

利用所述光电性能测试设备对当前LED芯粒进行光电性能测试，并在所述LED芯粒的光电性能测试完成后，判断所述LED芯粒的光电性能测试是否合格，如果否，则利用与所述光电性能测试设备连接的紫外光源对所述LED芯粒进行紫外曝光处理；

判断是否对UV失粘膜上所有LED芯粒均进行过光电性能测试，若是，则进入步骤S103，若否，则将下一LED芯粒作为当前LED芯粒，并返回利用所述光电性能测试设备对当前LED芯粒进行光电性能测试的步骤。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并透过所述承托盘对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理包括：

利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并统计光电性能测试不合格的LED芯粒的位置信息；

根据统计的光电性能测试不合格的LED芯粒的位置信息，利用至少一个紫外光源对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述LED芯粒的位置信息为以预设LED芯粒为原点建立的平面坐标系的坐标信息。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述分离所述蓝膜与多个所述LED芯粒之后还包括：

对所述UV失粘膜表面的LED芯粒进行外观测试，并剔除外观测试不合格的LED芯粒。

6.一种异常LED芯粒的挑除系统，其特征在于，包括：

芯粒设置模块，用于将多个LED芯粒设置于UV失粘膜表面，并将设置有多个LED芯粒的UV失粘膜放置于光电性能测试设备的承托盘表面，所述承托盘为透明材质的承托盘；

性能测试模块，用于利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并透过所述承托盘对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理；

蓝膜设置模块，用于在多个所述LED芯粒背离所述UV失粘膜一侧设置蓝膜；

芯粒分离模块，用于分离所述蓝膜与多个所述LED芯粒。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述性能测试模块利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并透过所述承托盘对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理具体用于，

利用所述光电性能测试设备对当前LED芯粒进行光电性能测试，并在所述LED芯粒的光电性能测试完成后，判断所述LED芯粒的光电性能测试是否合格，如果否，则利用与所述光电性能测试设备连接的紫外光源对所述LED芯粒进行紫外曝光处理；

判断是否对UV失粘膜上所有LED芯粒均进行过光电性能测试，若是，则启动所述蓝膜设置模块，若否，则将下一LED芯粒作为当前LED芯粒，并返回利用所述光电性能测试设备对当前LED芯粒进行光电性能测试的步骤。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述性能测试模块包括：

测试单元，用于利用所述光电性能测试设备对多个所述LED芯粒进行光电性能测试，并统计光电性能测试不合格的LED芯粒的位置信息；

曝光单元，用于根据统计的光电性能测试不合格的LED芯粒的位置信息，利用至少一个紫外光源对光电性能测试不合格的LED芯粒进行紫外曝光处理。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述LED芯粒的位置信息为以预设LED芯粒为原点建立的平面坐标系的坐标信息。