[发明专利]一种检测光学薄膜平整度的装置在审
| 申请号： | 201711147526.2 | 申请日： | 2017-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN107782263A | 公开（公告）日： | 2018-03-09 |
| 发明（设计）人： | 刘志国;陈毅;谢雨江 | 申请（专利权）人： | 成都菲奥姆光学有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都市双流区*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 检测 光学薄膜 平整 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种检测光学薄膜平整度的装置，其特征在于，包括检测装置(1)和底盘(2)，所述底盘(2)下端面设置有两组滑轮(21)，检测装置(1)一端设置有进入口(13)，检测装置(1)的另一端设置有出入口(14)，所述检测装置(1)内设置有固定滚筒(11)和抬升滚筒(12)，所述固定滚筒(11)和抬升滚筒(12)的旋转方向相反，将从进入口(13)进入的光学薄膜向出入口(14)方向滚出，所述滚出方向上还设置有检测板(3)，检测板(3)上设置有若干个红外检测头(31)，通过红外检测头(31)检测光学薄膜平整度。
2.根据权利要求1所述的一种检测光学薄膜平整度的装置，其特征在于，所述抬升滚筒(12)通过抬升装置(4)进行抬升，所述抬升装置(4)一端设置在底盘(2)上端面，另一端与抬升滚筒(12)侧端面上的固定架连接。
3.根据权利要求2所述的一种检测光学薄膜平整度的装置，其特征在于，所述抬升装置(4)包括固定板(41)和升降杆(42)，所述抬升装置(4)在装置启动后，升降杆(42)向上抬升至与固定滚筒(11)相匹配。
4.根据权利要求1所述的一种检测光学薄膜平整度的装置，其特征在于，所述固定滚筒(11)和抬升滚筒(12)设置有两组，分别设置在进入口(13)内侧和出入口(14)内侧，检测板(3)设置在两组滚筒中间。
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