[发明专利]一种检测光学薄膜平整度的装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置，具体涉及一种检测光学薄膜平整度的装置。

背景技术

在各种试验台架中，平台基座是用于安装精密机械部件的基础，常与土建结构的钢筋骨架焊接在一起，为保证机械部件安装精度和稳定性，其安装面与平台基座表面应能紧密接合，因此对平台基座表面的平面度和水平度有一定要求。由于平台基础是在土建施工时安装好的，因此平台基座表面的平面度和倾斜度检测必须在现场进行，必要的平面打磨也只能现场手工作业。

而较先进的，利用水准高差法检测大型平板工件平面度时，需要测量工件表面各测量点的高差，具体做法是将带有刻度的标尺分别置于工件表面各测量点，用架设好的水准仪瞄准标尺刻度，通过刻度读数得到各测量点的高差。通常用于水准测量的标尺仅为一带水泡水准器的普通直尺，没有任何调平机构，通过瞄准尺身上的刻线来读数，刻线最小分度为0.5mm，尺身垂直精度和刻线瞄准精度都很低，进而使最终的平面度检测数据精度大大降低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是对光学薄膜的平整度的检测困难，通常只能抽样检查，不能做到全面、快速的检测，目的在于提供一种检测光学薄膜平整度的装置，解决上述的问题。

本发明通过下述技术方案实现：

一种检测光学薄膜平整度的装置，包括检测装置和底盘，所述底盘下端面设置有两组滑轮，检测装置一端设置有进入口，检测装置的另一端设置有出入口，所述检测装置内设置有固定滚筒和抬升滚筒，所述固定滚筒和抬升滚筒的旋转方向相反，将从进入口进入的光学薄膜向出入口方向滚出，所述滚出方向上还设置有检测板，检测板上设置有若干个红外检测头，通过红外检测头检测光学薄膜平整度。目前，现有的检测方式通常是人工抽检，通过手持或者精密的红外检测仪器对光学薄膜的平整度进行检测，这样检测的效率不高，并且仅能够进行抽样检测。而本发明采用两个滚筒进行光学薄膜收紧，可以大量、快速的对光学薄膜进行收集，并将呈卷轴状的光学薄膜快速铺平，检测后推出，在接入卷扬机的话，就可以在完成平整度检测后，将光学薄膜重新卷好。这样做能够有效的提高检测效率，并且能够将一整卷的光学薄膜快速进行检测，并通过红外检测仪器上的对射式红外传感器进行快速扫描，并通过外接PC或者显示器将数据进行显示、处理。

进一步地，所述抬升滚筒通过抬升装置进行抬升，所述抬升装置一端设置在底盘上端面，另一端与抬升滚筒侧端面上的固定架连接。设置的抬升装置是为了避免光学薄膜在装置工作时卡在装置内部，通过调节抬升装置的高度，可以调节抬升滚筒和固定滚筒的紧密度，让光学薄膜能够更好的进行检测。

进一步地，所述抬升装置包括固定板和升降杆，所述抬升装置在装置启动后，升降杆向上抬升至与固定滚筒相匹配。通过升降杆进行调节，一般选用气压或液压装置进行抬升，通过远程遥控抬升、下降，或者也可以通过在检测装置外部设置电磁开关控制抬升装置的上升和下降。

进一步地，所述固定滚筒和抬升滚筒设置有两组，分别设置在进入口内侧和出入口内侧，检测板设置在两组滚筒中间。设置两组的固定滚筒和抬升滚筒相配合，可以让光学薄膜在通过检测板时，更为平稳，增加检测的准确性。

本发明与现有技术相比，具有如下的优点和有益效果：

1、本发明一种检测光学薄膜平整度的装置，能够进行全面检测，检测效率高；

2、本发明一种检测光学薄膜平整度的装置，通过设置滑轮，便于进行移动，可以适用于各种环境。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明实施例的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本发明实施例的限定。在附图中：

图1为本发明结构示意图。

附图中标记及对应的零部件名称：

1-检测装置，11-固定滚筒，12-抬升滚筒，13-进入口，14-出入口，2-底盘，21-滑轮，3-检测板，31-红外检测头，4-抬升装置，41-固定板，42-升降杆。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本发明作进一步的详细说明，本发明的示意性实施方式及其说明仅用于解释本发明，并不作为对本发明的限定。

实施例