[发明专利]样品溶胶方法、用于样品溶胶方法的治具和设备在审
申请号: | 201711147853.8 | 申请日: | 2017-11-17 |
公开(公告)号: | CN107978534A | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 杨金平 | 申请(专利权)人: | 威创集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L21/67;H01L33/52 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 余永文 |
地址: | 510670 广东省广州*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样品 溶胶 方法 用于 设备 | ||
技术领域
本发明涉及胶体技术领域,特别是涉及一种样品溶胶方法、用于样品溶胶方法的治具和设备。
背景技术
为获取表层覆盖有封装胶体的样品的内部元件,通常需要对样品进行溶胶处理,即溶解封装胶体。传统的样品溶胶方法是采用化学溶液对样品的封装胶体进行腐蚀,反复观察直至胶体完全溶解,从而获取封装胶体内部的元件。
举例来说,针对LED(Light-Emitting Diode,灯珠)进行溶胶获取灯珠芯片时,需要先将灯珠样品放入化学溶液中进行溶解,再反复夹取样品进行观察,直至灯珠封装胶体完全溶解,从而获取灯珠芯片。
然而,发明人在实施传统的样品溶胶方法的过程中,发现传统的样品溶胶方法存在样品损坏率高的技术问题。
发明内容
基于此,有必要针对上述样品溶胶时损坏率高的技术问题,提供一种样品溶胶方法和用于样品溶胶方法的治具和设备。
提供一种样品溶胶方法,包括以下步骤:
将固定有待溶胶样品的治具置于溶解器中,往所述溶解器中加入溶解剂并加热;
夹取所述治具上未覆盖有所述待溶胶样品的区域,从所述溶解剂中取出所述治具,观察所述样品的封装胶体是否完全溶解;
若所述封装胶体未完全溶解,则将所述治具置于所述溶解剂中,反复观察,直至所述样品的封装胶体完全溶解。
其中,所述将固定有待溶胶样品的治具置于溶解器中的步骤包括将待溶胶样品固定于所述治具的固定盘上,将固定有所述待溶胶样品的治具置于溶解器中,从而降低了样品的损坏率。
其中,所述待溶胶样品的数量为多个,同时多个样品进行溶胶,从而提高了样品溶胶的效率。
其中,在所述样品的封装胶体完全溶解之后,将所述治具放入无水乙醇中进行清洗,从而降低了样品的损坏率。
其中,在所述样品的封装胶体完全溶解之后,将所述固定有待溶胶样品的治具倾斜固定于载具上,以便后续观察样品。
其中,所述样品溶胶方法在通风处进行,提高样品溶胶的安全性。
其中,所述溶解剂包括硫酸和蓝药水中的任意一种,针对不同样品和不同类型封装胶体,采用不同溶解剂,提高溶胶效率。
一种用于所述的样品溶胶方法的治具,所述治具上设置有用于固定待溶胶样品的固定盘。
一种用于样品溶胶方法的设备,包括所述用于样品溶胶方法的治具。
其中,所述用于样品溶胶方法的设备还包括溶解器、夹具、载具和固定剂,所述溶解器是用于进行样品溶胶的容器,所述夹具用于夹取固定有待溶胶样品的治具;所述载具用于承载固定有待测溶胶样品的治具;所述固定剂用于将固定有待溶胶样品的治具固定于所述载具上;通过对待溶胶样品进行溶胶处理以及固定观察,降低样品溶胶损坏率以及提高溶胶过程的完整性。
上述样品溶胶方法、用于样品溶胶方法的治具和设备,通过将待溶胶的样品固定于治具上,将治具置于溶解剂中进行溶胶,通过夹取治具上未覆盖待溶胶样品的区域,反复观察直至样品的封装胶体完全溶解,无需接触样品,降低了样品溶胶过程的损坏率。
附图说明
图1为一个实施例的样品溶胶方法的流程图;
图2为一个实施例的待溶胶样品的主视图;
图3为一个实施例的待溶胶样品的左视图;
图4为一个实施例的待溶胶样品的俯视图;
图5为一个实施例的治具结构图;
图6为另一个实施例的治具结构图;
图7为一个实施例的样品观察的结构图。
具体实施方式
下面结合具体的实施例及附图对本发明的技术方案进行详细的描述,以使其更加清楚。
如图1所示,本发明实施例提供一种样品溶胶方法,可包括以下步骤:
S10:将固定有待溶胶样品的治具置于溶解器中,往所述溶解器中加入溶解剂并加热;
S20:夹取所述治具上未覆盖有所述待溶胶样品的区域,从所述溶解剂中取出所述治具,观察所述样品的封装胶体是否完全溶解;
S30:若所述封装胶体未完全溶解,则将所述治具置于所述溶解剂中,反复观察,直至所述样品的封装胶体完全溶解。
本方法针对样品为表面覆盖有封装胶体的样品,在实际应用中,待溶胶样品可为LED灯珠。为了便于描述,下面均以待溶胶样品是LED灯珠样品为例进行说明。
其中,步骤S10将固定有待溶胶样品的治具置于溶解器中可包括先将待溶胶的灯珠样品固定于治具的固定盘上,再将该治具放入溶解器中,从而避免与样品的直接接触,降低样品损坏率。
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