[发明专利]一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统在审

专利信息
申请号: 201711154330.6 申请日: 2017-11-20
公开(公告)号: CN107894425A 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 王骏;沈成峰;校忠 申请(专利权)人: 伟创力电子技术(苏州)有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司32234 代理人: 孙茂义
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 二维 自动 光学 检测 缺陷 辅助 系统
【权利要求书】:

1.一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统,其特征在于,包括:历史缺陷图片对比装置、IPC标准对比装置、信息远程控制装置和数据处理装置,所述历史缺陷图片对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的历史缺陷图片信息,所述IPC标准对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的IPC判断标准信息,所述信息远程控制装置根据所述数据处理装置发出的报错信息,定位调取相应的二维自动光学检测机的测试报告。

2.根据权利要求1所述的一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统,其特征在于,所述二维自动光学检测机发出的测试报告包括当前报警元件的位置信息和缺陷信息。

3.根据权利要求2所述的一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统,其特征在于,所述缺陷信息包括错位信息、错误信息、焊点不良信息,桥接信息、元件侧立信息、反件信息。

4.根据权利要求3所述的一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统,其特征在于,所述错位信息包括元件错位信息和旋转错位信息。

5.根据权利要求3所述的一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统,其特征在于,所述错误信息包括极性错误信息和字符识别错误信息。

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