[发明专利]一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子制造领域，特别是涉及一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统。

背景技术

由于EMS行业各方面成本的不断提高，公司人力物力的成本需要控制，通常会需要根据目前项目上的需求对QC检测工位进行优化，由于现有的绝大部分的AOI设备都是2D的机器，而3D AOI的系统无法应用于这些设备，并且现有的QC检测主要工作部分是由人工完成，在重复性的繁琐工作中，会出现不良品的遗漏，效率低下，成本高。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：

提供一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，包括：历史缺陷图片对比装置、IPC标准对比装置、信息远程控制装置和数据处理装置，所述历史缺陷图片对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的历史缺陷图片信息，所述IPC标准对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的IPC判断标准信息，所述信息远程控制装置根据所述数据处理装置发出的报错信息，定位调取相应的二维自动光学检测机的测试报告。

在本发明一个较佳实施例中，所述二维自动光学检测机发出的测试报告包括当前报警元件的位置信息和缺陷信息。

在本发明一个较佳实施例中，所述缺陷信息包括错位信息、错误信息、焊点不良信息，桥接信息、元件侧立信息、反件信息。

在本发明一个较佳实施例中，所述错位信息包括元件错位信息和旋转错位信息。

在本发明一个较佳实施例中，所述错误信息包括极性错误信息和字符识别错误信息。

本发明的有益效果是：提供一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，通过远程控制多台设备，操作员根据二维自动光学检测机的测试报告判断当前产品的错误和缺陷，具有可靠性能高、错误率低、效率高、成本低等优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1是本发明的基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统一较佳实施例的流程示意图。

具体实施方式

下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本发明实施例包括：

一种基于二维自动光学检测机的缺陷检测辅助系统，包括：历史缺陷图片对比装置、IPC标准对比装置、信息远程控制装置和数据处理装置，所述历史缺陷图片对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的历史缺陷图片信息，所述IPC标准对比装置用于接收和显示所述数据处理装置发出的IPC判断标准信息，所述信息远程控制装置根据所述数据处理装置发出的报错信息，定位调取相应的二维自动光学检测机的测试报告。

本系统通过远程控制多台设备，当被测试板子进入各线的AOI测试后，AOI会生成板子的缺陷结果，远程控制中心根据数据处理装置发出的报错信息抓取这些信息，并按照优先级自动提醒操作员检查测试缺陷，同时数据处理装置会提供相关缺陷的IPC标准及历史图像照片用于帮助操作员判断现有的报警信息，判断为OK的板子会自动流入下一站，NG的板子状态会进入维修中心。

工作流程如下：

1、AOI测试板子，生成检测结果后，将测试状态发送给数据处理装置；

2、数据处理装置收到信号后，远程启动信息远程控制装置，连接到发送数据的AOI；

3、操作员通过信息远程控制装置，判断AOI报出的缺陷；

4、在判断过程中，数据处理装置会根据当前报警元件的位置信息和缺陷信息，调用该元件之前的缺陷图片和IPC标准中判断该缺陷的标准，分别显示在历史缺陷图片对比装置和IPC标准对比装置上面，给操作员参考判断当前的报警；

5、判断结束后，等待下一台设备的报警。

优选地，所述二维自动光学检测机发出的测试报告包括当前报警元件的位置信息和缺陷信息。

优选地，所述缺陷信息包括错位信息、错误信息、焊点不良信息，桥接信息、元件侧立信息、反件信息。

优选地，所述错位信息包括元件错位信息和旋转错位信息。