[发明专利]一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及嵌入式传感器技术领域，特别是涉及一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置及方法。

背景技术

嵌入式测试(BIT)又称内置自测试，是指系统或设备内部提供的检测和隔离故障的自动测试能力，换句话来说是系统或设备内部提供测试激励，同时观察和估计测试响应，是电子设备可测性设计的主要技术手段和方法。

为了满足电子设备的测试性需求，通过在电子设备中进行嵌入式测试单元的设计来实现。对于电子设备的嵌入式测试单元设计简称BIT设计，需要从设计之初就开始对整个电子设备进行测试性的分析，根据测试性分析的结果，分析电子设备测试性在设计要求的故障覆盖率基础上需要什么测试向量与测点，并通过电路设计实现监测信号的引出，然后根据采集的监测信号进行电子设备的状态监测等功能。

随着国家对于电子设备测试性要求的提高，现今新型的电子设备嵌入式测试单元设计，增加了可测性分析等环节，在装备设计之初就通过例如TEAMS等测试性分析软件对电子装备进行测试性分析，然后通过测试性分析的结果，采用分离式器件搭建的形式，设计相应的嵌入式测试功能电路。但是由于嵌入式测试单元设计不标准，同时缺乏能实现测试性要求满足和测试性优化分析设计的嵌入式测试单元设计工具，因此嵌入式测试性单元的设计水平往往不能满足测试性需求。再加上分离式的电路设计，使得嵌入式测试单元设计缺乏规范性，无法满足功能、结构、体积等相关设计的管控要求。

对于大量已有的电子设备的嵌入式测试单元设计，采用的技术多是在电子设备功能设计已经完成后，在电子设备现有的可用测点基础上，采用分离式器件搭建，设计相应的嵌入式测试功能电路，从而实现嵌入式测试单元的设计，在监测过程中多采用阈值判断的方式实现电子设备工作状态的判定。由于嵌入式测试单元设计与电子设备的功能设计脱节，BIT设计时电子设备已经成型，无法对电子装备功能、结构、体积等相关设计进行更改，因此嵌入式测试单元设计往往缩水，能力无法保障。

综上所述，现有技术中对于上述技术问题，尚缺乏有效的解决方案。

发明内容

为了解决现有技术的不足，本发明提供了一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置，本发明目的在于通过标准化的嵌入式测试单元设计解决嵌入式测试单元设计不规范、嵌入式测试单元测试消耗不可控的问题。

一种适用于电子设备的嵌入式测试单元装置，包括标准数字BIT芯片、标准模拟BIT芯片及射频微波标准BIT芯片；

所述标准模拟BIT芯片和所述射频微波标准BIT芯片采集的信号都传送到所述标准数字BIT芯片，所述标准数字BIT芯片通过各种接口与上位机通信实现功能控制和信息的采集；

其中，模拟被测功能电路中的模拟节点信号通过信号检测通道直接与标准模拟BIT芯片连接，用于电压、频率、波形参数测试并以串行数据形式输出；信号在标准数字BIT芯片里可以获得处理最终转换为数字信号，从而实现标准数字BIT芯片与标准模拟BIT芯片的组合；对于射频微波被测电路，通过将射频微波探测点引入射频微波标准BIT芯片，由射频微波标准BIT芯片获取测试信息并将测试信息转化为模拟信号，实现射频微波标准BIT芯片与标准模拟BIT芯片的组合；射频微波标准BIT芯片中的模拟信号通过ADC(数模转化单元)后转化为数字信号，实现射频微波标准BIT芯片与标准数字BIT芯片的组合。

进一步的，上述适用于电子设备的嵌入式测试单元装置中的三种芯片从BIT芯片本身的组合可实现外部组合，将不同的系列BIT芯片，按照被测电路板中不同电路种类的需求进行连接。

进一步的，上述适用于电子设备的嵌入式测试单元装置中的三种芯片从BIT芯片内部结构组合可实现内部组合。

进一步的，所述标准数字BIT芯片包括智能处理器及与之通讯的协议转换单元、测试与维修接口单元、模拟/射频微波电路控制与处理单元、存储单元、边界扫描主控单元。

协议转换单元的功能是实现测试到的信号与上位机通信时的协议转化，测试与维修接口单元主要功能是实现MTM标准的通信接口，模拟/射频微波电路控制与处理单元的主要功能是实现对于射频/模拟芯片的工作与信号处理，存储单元实现数据的存储，边界扫描单元实现符合IEEE1149.1边扫单元的连接与控制。