[发明专利]集成电路测试装置在审
申请号: | 201711158396.2 | 申请日: | 2017-11-20 |
公开(公告)号: | CN108008155A | 公开(公告)日: | 2018-05-08 |
发明(设计)人: | 商亚锋 | 申请(专利权)人: | 商亚锋 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 214500 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 测试 装置 | ||
1.一种集成电路测试装置,包含:
一弹性橡胶,其包含多个导电孔及一用于隔绝该多个导电孔的绝 缘区;及
一固定装置,用以将所述集成电路固定于所述弹性橡胶上,致使 该集成电路管脚可电连接于所述导电孔。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于所述固 定装置包含:
一压板;及
一固定柱,用于将所述压板锁向该弹性橡胶,使所述集成电路管脚 紧密地电连接于所述导电孔。
3.根据权利要求2所述的集成电路测试装置,其特征在于所述固 定装置还包含一弹簧,用以弹性地调整所述压板的压力。
4.根据权利要求1所述的集成电路测试装置,其特征在于所述集 成电路为一球栅阵列封装型集成电路。
5.一种集成电路测试装置,包含:
一弹性橡胶,包含一绝缘区及多个外露于所述弹性橡胶表面的导 电区;及
一固定装置,用以将所述集成电路固定在所述弹性橡胶上,致使所 述集成电路管脚可电连接于所述导电区。
6.根据权利要求5所述的集成电路测试装置,其特征在于所述导 电区呈长条状。
7.根据权利要求5所述的集成电路测试装置,其特征在于所述集 成电路为一小轮廓封装型集成电路。
8.根据权利要求5所述的集成电路测试装置,其特征在于所述固 定装置包含:
一固定柱,用于将所述压板锁向所述弹性橡胶,使所述集成电路管 脚紧密地电连接于所述导电区。
9.根据权利要求8所述的集成电路测试装置,其特征在于固定装 置还包含一弹簧,用以弹性地调整所述压板的压力。
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