[发明专利]一种时钟晶体振荡器检测方法有效
申请号: | 201711174137.9 | 申请日: | 2017-11-22 |
公开(公告)号: | CN108169651B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 睢建平;潘立虎;郑文强;崔巍;段友峰;哈斯图亚 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇 |
地址: | 100854 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 时钟 晶体振荡器 检测 方法 | ||
1.一种时钟晶体振荡器检测方法,其特征在于,包括:
整体检测过程,包括以下步骤:
用显微镜检查器件的外观,包括外壳、焊盘、引线,是否存在污染、脱离、缺损、锈蚀;
用X光检查键合丝、导电胶和其他金属连接部位,是否存在开路、短路;
对时钟晶体振荡器的电性能进行测试,如果所述时钟晶体振荡器没有振荡信号输出,且工作电流大于或小于正常范围的工作电流值,则:
管脚电流电压特性测试,检测芯片的管脚之间是否存在开路、短路;
颗粒碰撞噪声试验,检测所述时钟晶体振荡器内部是否存在多余物;
如果所述时钟晶体振荡器没有振荡信号输出,且工作电流小于正常范围的工作电流值,则:
使用漏气检测设备检查所述时钟晶体振荡器的密封性能,确认所述时钟晶体振荡器是否存在漏气;
开封检测过程,包括以下步骤:
用显微镜或金相显微镜检测晶片、电极、基座、支架、点胶点是否有损伤、污染、裂纹、破碎;
如果所述时钟晶体振荡器没有振荡信号输出,且工作电流大于或小于正常范围的工作电流值,则所述开封检测过程,还包含以下步骤,顺序进行:
使用显微镜或扫描电镜对晶片进行检查,电极表面是否存在裂纹;
晶片功能测试,电阻是否满足起振条件;
使用显微镜或扫描电镜对芯片进行检查,键合丝是否存在烧蚀、污染、错搭,芯片表面是否存在烧蚀、污染;
如果所述时钟晶体振荡器没有振荡信号输出,且工作电流小于正常范围的工作电流值,则所述开封检测过程,还包含以下步骤:使用扫描电镜对芯片内部进行检测,确认是否存在静电损伤或辐照损伤;
所述开封检测过程在整体检测过程之后进行;所述任意一项步骤确认所述时钟晶体振荡器失效原因,不再进行其他步骤。
2.如权利要求1所述时钟晶体振荡器检测方法,其特征在于,在进行所述开封检测的过程之间,对所述时钟晶体振荡器进行开封的方法为以下任意一种:研磨开封、剪切开封或激光开封。
3.如权利要求1所述时钟晶体振荡器检测方法,其特征在于,还包含以下步骤
检查使用状态下的所述时钟晶体振荡器外围电路,确认是否因外围电路故障导致所述时钟晶体振荡器不工作。
4.如权利要求1所述时钟晶体振荡器检测方法,其特征在于,记录所述时钟晶体振荡器失效前的应力过程信息。
5.如权利要求4所述时钟晶体振荡器检测方法,其特征在于,所述应力过程信息包含以下至少一种:热应力过程信息、力学应力过程信息、电学应力过程信息。
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