[发明专利]一种H桥的检测系统及检测方法有效
申请号: | 201711180446.7 | 申请日: | 2017-11-23 |
公开(公告)号: | CN107861019B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 黄涛涛;赵春波;魏荣峰;姚进光;段勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市巴丁微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/66 | 分类号: | G01R31/66 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 唐致明;洪铭福 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 系统 方法 | ||
本发明公开了一种H桥的检测系统及方法。本发明提供一种H桥的检测系统及检测方法,H桥的检测系统包括脉冲产生电路、第一采样电阻、第二采样电阻和电位比较电路,电路结构简单且可以实现H桥的连接状态检测;脉冲产生电路产生脉冲输入第一H桥的电源负极端后,通过电位比较电路检测第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位是否一致,以判断第一H桥和第二H桥的连接状态,H桥的连接状态检测方法快捷方便,且检测结果精确。
技术领域
本发明涉及电机驱动领域,尤其是涉及一种H桥的检测系统及检测方法。
背景技术
在电机驱动中,驱动芯片内部采用H桥对电机进行驱动,驱动一个步进电机需要两个H桥,驱动一个直流有刷电机需要一个H桥。现在为了加大H桥对电机的驱动能力,将两个H桥并联后用来驱动同一个电机,从而增大驱动电流,加大对电机的驱动能力,在这种情况下,由于信号传输路径不同而产生延迟,会导致两个H桥发生串通现象,使得两个H桥没有有效并联起来,无法实现H桥的正常并联应用,因此需要检测两个H桥是否并联,并根据检测到的是否并联的结果做进一步的处理。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明的目的是提供一种H桥的检测系统及检测方法,用于检测两个H桥是否为并联应用。
本发明所采用的技术方案是:一种H桥的检测系统,所述H桥的检测系统包括第一H桥、第二H桥、脉冲产生电路、第一采样电阻、第二采样电阻和电位比较电路,所述第一H桥、第二H桥均用于驱动电机,是待检测是否并联的两个H桥,所述第一H桥、第二H桥与电机连接;所述脉冲产生电路的输出端与第一H桥的电源负极端连接,用于输出瞬时脉冲到第一H桥的电源负极端;所述第一H桥的电源负极端通过第一采样电阻接地,所述第二H桥的电源负极端通过第二采样电阻接地;所述第一采样电阻的非接地端(即第一H桥的电源负极端)、第二采样电阻的非接地端(即第二H桥的电源负极端)与电位比较电路的输入端连接;所述电位比较电路用于当瞬时脉冲输入到第一H桥的电源负极端时,检测第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位是否一致,以判断第一H桥和第二H桥的连接状态。
进一步地,所述第一H桥包括第一NMOS管、第二NMOS管、第三NMOS管和第四NMOS管,所述第一NMOS管的漏极、第二NMOS管的漏极作为第一H桥的电源正极端与电源正极连接,所述第一NMOS管的源极与第三NMOS管的漏极连接,所述第二NMOS管的源极与第四NMOS管的漏极连接,所述第三NMOS管的源极、第四NMOS管的源极作为第一H桥的电源负极端。
进一步地,所述第二H桥包括第五NMOS管、第六NMOS管、第七NMOS管和第八NMOS管,所述第五NMOS管的漏极、第六NMOS管的漏极作为第二H桥的电源正极端与电源正极连接,所述第五NMOS管的源极与第七NMOS管的漏极连接,所述第六NMOS管的源极与第八NMOS管的漏极连接,所述第七NMOS管的源极、第八NMOS管的源极作为第二H桥的电源负极端。
进一步地,所述电位比较电路包括电位比较器,所述第一采样电阻的非接地端、第二采样电阻的非接地端与电位比较器的输入端连接。
进一步地,所述第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位相等时,所述电位比较器输出高电平信号,所述第一H桥和第二H桥是并联应用;所述第一H桥的电源负极端和第二H桥的电源负极端的电位不相等时,所述电位比较器输出低电平信号,所述第一H桥和第二H桥非并联应用。
进一步地,所述电位比较电路还包括单片机和检测结果提示单元,所述电位比较器的输出端与单片机的输入端连接,所述单片机的输出端与检测结果提示单元的输入端连接。
进一步地,所述检测结果提示单元为指示灯和/或语音输出单元和/或显示单元。
本发明所采用的另一技术方案是:一种H桥的检测方法,应用于所述的H桥的检测系统,包括以下步骤,
利用脉冲产生电路产生瞬时脉冲并输入第一H桥的电源负极端;
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