[发明专利]MEMS封装结构及方法在审
申请号: | 201711200511.8 | 申请日: | 2017-11-27 |
公开(公告)号: | CN109835866A | 公开(公告)日: | 2019-06-04 |
发明(设计)人: | 褚月 | 申请(专利权)人: | 上海路溱微电子技术有限公司 |
主分类号: | B81B7/02 | 分类号: | B81B7/02;B81C1/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201315 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转接 中间件 上表面 基板 芯片 封装结构 芯片焊盘 安装固定 转接焊盘 腔体 局部区域 电连接 焊接 体内 覆盖 | ||
1.一种MEMS封装结构,包括基板和外壳,基板和外壳形成腔体,至少一块芯片被置于腔体之内,并且被安装固定在基板之上,芯片具有若干芯片焊盘,该芯片焊盘由与其焊接的引线引出,其特征在于,所述MEMS封装结构包括一个转接中间件,该转接中间件也被置于由基板和外壳形成的腔体内,且被安装固定在所述芯片的上表面,
所述转接中间件的上表面的面积小于所述芯片的上表面,使得转接中间件覆盖了芯片的上表面的一个局部区域,
所述转接中间件设有若干转接焊盘,该转接焊盘通过引线与芯片焊盘实现电连接。
2.如权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述转接中间件从下表面处构造出一个内凹的空腔,在转接中间件上表面开有第一通孔。
3.如权利要求2所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述转接中间件从下表面处构造出的空腔剖面形状是梯形、矩形或半圆形。
4.如权利要求3所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述转接中间件上表面的至少一条边缘是下台阶状,所述转接焊盘布设在台阶边缘表面。
5.如权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述MEMS封装结构的外壳表面设有出气孔,所述芯片通过贴片胶与基板固定。
6.如权利要求1所述的MEMS封装结构,其特征在于,所述芯片具有敏感区域,所述转接中间件覆盖了该敏感区域。
7.如权利要求1至6任一所述的MEMS封装结构,其特征在于,基板和外壳形成的腔体采用塑封料EMC灌注密封。
8.一种MEMS封装方法,用于MEMS封装结构,该封装结构的基板和外壳形成腔体,至少一块芯片被置于该腔体之内,并且被安装固定在基板之上,芯片具有若干芯片焊盘,该芯片焊盘由与其焊接的引线引出,
其特征在于,将一个转接中间件置于由基板和外壳形成的腔体内,且被安装固定在所述芯片的上表面,
由于所述转接中间件的上表面的面积小于所述芯片的上表面,使得转接中间件覆盖芯片的上表面的一个局部区域,
在所述转接中间件上设有若干转接焊盘,将转接焊盘通过引线与芯片焊盘实现电连接。
9.如权利要求8所述的MEMS封装方法,其特征在于,从所述转接中间件下表面处构造出一个内凹的空腔,在转接中间件上表面开出第一通孔。
10.如权利要求9所述的MEMS封装方法,其特征在于,所述转接中间件从下表面处构造出的空腔剖面形状是梯形、矩形或半圆形。
11.如权利要求9所述的MEMS封装方法,其特征在于,所述转接中间件上表面的至少一条边缘是下台阶状,所述转接焊盘布设在台阶边缘表面。
12.如权利要求8所述的MEMS封装方法,其特征在于,所述MEMS封装结构的外壳表面设有出气孔,所述芯片通过贴片胶与基板固定。
13.如权利要求8所述的MEMS封装方法,其特征在于,所述芯片具有敏感区域,用所述转接中间件覆盖该敏感区域。
14.如权利要求8至13任一所述的MEMS封装方法,其特征在于,采用塑封料EMC灌注密封由基板和外壳形成的腔体。
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