[发明专利]一种集成电路引线成型装置有效
申请号: | 201711243659.X | 申请日: | 2017-11-30 |
公开(公告)号: | CN108091578B | 公开(公告)日: | 2020-03-13 |
发明(设计)人: | 刘小玲 | 申请(专利权)人: | 贵州航天电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 贵阳睿腾知识产权代理有限公司 52114 | 代理人: | 谷庆红 |
地址: | 550009 *** | 国省代码: | 贵州;52 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 引线 成型 装置 | ||
本发明提供了一种集成电路引线成型装置;由上模组件和下模组件组成,所述上模组件包括压块、中柱、上模座,上模座中心部位设置有圆孔用于安装中柱,中柱为阶梯圆柱状,中柱与上模座中心部位的圆孔采取过盈配合进行安装,压块中心设置有圆孔,圆孔与中柱形成过盈配合,压块外形为矩形且尺寸与上模座下部的矩形容纳槽匹配并形成过渡配合,压块套在中柱上,外形卡在容纳槽中。本发明能高效完成集成电路引线的成型,定位可靠,成型一致性好,并且表面没有压痕,成型尺寸控制精准,引线成型的共面性好,成型效率高,易于实现批量生产,而且该装置结构简单新颖,安装方便,操作简单,易于加工制造,使用效果好。
技术领域
本发明涉及一种集成电路引线成型装置。
背景技术
随着电子技术的不断进步,集成电路封装技术得到了很大的发展,集成电路引线成型原本是集成电路封装的后道工序,但为了给设计者在电路板设计过程中留有较大的选择空间以及在不进行焊接的前提下可进行程序烧录和模拟仿真等试验,未经引线成型的集成电路在产品中得到广泛应用,这就带来一个问题,就是在进行焊接前需对被焊接的集成电路进行引线成型,目前主要通过手工的方法完成集成电路的引线成型,虽然其成型的灵活性较大,但是成型的一致性差,引线成型的共面性差,工作效率低,工艺上不易控制,给后续集成电路的焊接带来较大影响。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提供了一种集成电路引线成型装置,该集成电路引线成型装置能高效完成集成电路引线的成型,成型一致性好,成型尺寸控制精准,引线成型的共面性好,成型效率高,易于实现批量成型。
本发明通过以下技术方案得以实现。
本发明提供的一种集成电路引线成型装置;由上模组件和下模组件组成,所述上模组件包括压块、中柱、上模座,上模座中心部位设置有圆孔用于安装中柱,中柱为阶梯圆柱状,中柱与上模座中心部位的圆孔采取过盈配合进行安装,压块中心设置有圆孔,圆孔与中柱形成过盈配合,压块外形为矩形且尺寸与上模座下部的矩形容纳槽匹配并形成过渡配合,压块套在中柱上,外形卡在容纳槽中;所述下模组件包括下模座、第一导向柱、第二导向柱,下模座上部设置有与集成电路引线成型形状相匹配的凸台,凸台与集成电路引线接触处有圆角R,凸台尺寸与集成电路引线成型尺寸A、R相匹配,下模座左右两边设置有第一导向柱、第二导向柱,第一导向柱、第二导向柱尺寸大小不同。
所述压块材料为聚氨酯橡胶板。
所述压块下部设置有开槽缺口,用于成型时避开成电路集成电路的外壳以免压伤。
所述下模座材料为2A12铝材,成型部位表面粗糙度0.8。
所述上模座材料为2A12铝材,成型部位表面粗糙度0.8。
所述上模座下部设置有矩形容纳槽,容纳槽中心位置与中柱的安装位置一致,容纳槽尺寸与集成电路引线成型尺寸A、R相匹配。
所述上模座左右两边还设置有导向孔,导向孔与下模组件的第一导向柱、第二导向柱配合导正上下模的位置。
所述下模座凸台中间设置有凹槽,用于放置集成电路,起定位作用,凹槽的尺寸与集成电路的外壳尺寸相匹配。
本发明的有益效果在于:能高效完成集成电路引线的成型,定位可靠,成型一致性好,并且表面没有压痕,成型尺寸控制精准,引线成型的共面性好,成型效率高,易于实现批量生产,而且该装置结构简单新颖,安装方便,操作简单,易于加工制造,使用效果好。
附图说明
图1是本发明的结构示意图;
图2是图1的仰视图。
图中:1-下模座,2-第一导向柱,3-压块,4-中柱,5-上模座,6-第二导向柱,7-集成电路,8-凹槽。
具体实施方式
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于贵州航天电子科技有限公司,未经贵州航天电子科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711243659.X/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造