[发明专利]一种发射光谱仪积分时间上限的设定方法有效
申请号: | 201711269382.8 | 申请日: | 2017-12-05 |
公开(公告)号: | CN108169215B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 于丙文;黄新宇;常红旭;郑磊落;陈挺;郭淳 | 申请(专利权)人: | 浙江全世科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/73 | 分类号: | G01N21/73 |
代理公司: | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人: | 胡晶 |
地址: | 310053 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发射 光谱仪 积分 时间 上限 设定 方法 | ||
1.一种发射光谱仪积分时间上限的设定方法,所述发射光谱仪的探测器为CCD探测器,其特征在于,所述CCD探测器的积分时间上限设定的计算方法包括步骤:
获取一次激发光源在N个不同梯度积分时间条件下的空白光谱图,N大于等于2;
计算N个不同梯度积分时间条件下的平均空白光谱图;
对不同波长处平均空白光谱强度Ib与积分时间T做线性回归拟合,得到空白背景光谱时间比例系数kd与背景常数bd;
设定CC D探测器量程上限FS;
设定检出限的置信系数t;
设定光源空白光谱波动水平特征值[RSD]b;
设定待检测元素量程上限与该元素预估检出限的倍数α;
根据公式计算积分时间上限,其中,[SD]b是n次空白值标准差,T是CCD的积分时间,kd=kn+kp,kn为CCD暗噪声的时间比例系数,kp为等离子体背景的时间比例系数,CCD探测器量程上限FS设定为满量程值,或根据CCD探测器的线性影响范围设定FS。
2.如权利要求1所述的设定方法,其特征在于,所述计算N个不同梯度积分时间条件下的平均空白光谱图,具体为:
对每个梯度积分时间条件下的空白光谱图进行M次测试,且N个梯度积分时间中的最高积分时间条件下的光谱图中不出现饱和值,M大于等于1;
计算M次测试的平均空白光谱图。
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