[发明专利]JTAG调试器的调试方法、调试器及系统在审
申请号: | 201711276058.9 | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN108107351A | 公开(公告)日: | 2018-06-01 |
发明(设计)人: | 田军;段媛媛;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 | 申请(专利权)人: | 西安智多晶微电子有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 刘长春 |
地址: | 710075 陕西省西安*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调试信号 调试器 解析 调试 接收上位机 调试效率 传输 输出 | ||
1.一种JTAG调试器的调试方法,其特征在于:包括:
(a)接收上位机传输的SVF文件;
(b)解析所述SVF文件并生成调试信号;
(c)输出所述调试信号。
2.根据权利要求1所述的调试方法,其特征在于,所述调试信号包括:TCK信号、TMS信号、TDI信号。
3.根据权利要求2所述的调试方法,其特征在于:步骤(b)包括:
(b1)解析所述SVF文件并生成时序参数、JTAG状态机数据、TCK数据、TDI数据;
(b2)将所述时序参数、JTAG状态机数据、所述TCK数据、所述TDI数据转换形成时序控制信号、所述TMS信号、所述TCK信号、所述TDI信号。
4.根据权利要求1所述的调试方法,其特征在于:步骤(c)之后还包括:
(x1)读取TDO信号并生成TDO数据;
(x2)将所述TDO数据与SVF文件的期望值进行对比产生对比结果;
(x3)输出所述对比结果和所述TDO数据。
5.一种JTAG调试器,其特征在于:包括:
接收芯片,用于接收从上位机传输的SVF文件;
解析芯片,与所述接收芯片连接,用于解析所述SVF文件并输出调试信号。
6.根据权利要求5所述的JTAG调试器,其特征在于:所述调试信号包括:TCK信号、TMS信号、TDI信号。
7.根据权利要求6所述的JTAG调试器,其特征在于:所述解析芯片包括:
SVF解析模块,用于解析所述SVF文件并产生调试数据;
JTAG状态机模块,用于产生所述TMS信号;
TCK产生模块,用于产生所述TCK信号;
TDI数据输出模块,用于产生所述TDI信号;
TDO数据读取模块,用于读取TDO信号;
时序参数模块,用于产生时序控制信号。
8.根据权利要求5所述的JTAG调试器,其特征在于:所述JTAG调试器通过USB端口或网口或串口或wifi或蓝牙或ZigBee连接所述上位机。
9.根据权利要求5所述的JTAG调试器,其特征在于:所述JTAG调试器同时测试一个或多个测试芯片。
10.一种JTAG调试系统,其特征在于:包括:上位机和权利要求5~9中任一项所述的JTAG调试器。
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