[发明专利]JTAG调试器的调试方法、调试器及系统在审

专利信息
申请号: 201711276058.9 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN108107351A 公开(公告)日: 2018-06-01
发明(设计)人: 田军;段媛媛;贾红;程显志;陈维新;韦嶔 申请(专利权)人: 西安智多晶微电子有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185
代理公司: 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230 代理人: 刘长春
地址: 710075 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 调试信号 调试器 解析 调试 接收上位机 调试效率 传输 输出
【权利要求书】:

1.一种JTAG调试器的调试方法,其特征在于:包括:

(a)接收上位机传输的SVF文件;

(b)解析所述SVF文件并生成调试信号;

(c)输出所述调试信号。

2.根据权利要求1所述的调试方法,其特征在于,所述调试信号包括:TCK信号、TMS信号、TDI信号。

3.根据权利要求2所述的调试方法,其特征在于:步骤(b)包括:

(b1)解析所述SVF文件并生成时序参数、JTAG状态机数据、TCK数据、TDI数据;

(b2)将所述时序参数、JTAG状态机数据、所述TCK数据、所述TDI数据转换形成时序控制信号、所述TMS信号、所述TCK信号、所述TDI信号。

4.根据权利要求1所述的调试方法,其特征在于:步骤(c)之后还包括:

(x1)读取TDO信号并生成TDO数据;

(x2)将所述TDO数据与SVF文件的期望值进行对比产生对比结果;

(x3)输出所述对比结果和所述TDO数据。

5.一种JTAG调试器,其特征在于:包括:

接收芯片,用于接收从上位机传输的SVF文件;

解析芯片,与所述接收芯片连接,用于解析所述SVF文件并输出调试信号。

6.根据权利要求5所述的JTAG调试器,其特征在于:所述调试信号包括:TCK信号、TMS信号、TDI信号。

7.根据权利要求6所述的JTAG调试器,其特征在于:所述解析芯片包括:

SVF解析模块,用于解析所述SVF文件并产生调试数据;

JTAG状态机模块,用于产生所述TMS信号;

TCK产生模块,用于产生所述TCK信号;

TDI数据输出模块,用于产生所述TDI信号;

TDO数据读取模块,用于读取TDO信号;

时序参数模块,用于产生时序控制信号。

8.根据权利要求5所述的JTAG调试器,其特征在于:所述JTAG调试器通过USB端口或网口或串口或wifi或蓝牙或ZigBee连接所述上位机。

9.根据权利要求5所述的JTAG调试器,其特征在于:所述JTAG调试器同时测试一个或多个测试芯片。

10.一种JTAG调试系统,其特征在于:包括:上位机和权利要求5~9中任一项所述的JTAG调试器。

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