[发明专利]JTAG调试器的调试方法、调试器及系统

说明书

本发明涉及JTAG器件技术领域，具体涉及一种JTAG调试器的调试方法、调试器及系统，包括如下步骤：(a)接收上位机传输的SVF文件；(b)解析所述SVF文件并生成调试信号；(c)输出所述调试信号。本发明实施例无需通过USB端口控制JTAG端口电平，而采用了在JTAG调试器中直接解析SVF文件并生成对应的调试信号，大大提高了JTAG调试器的调试效率。

技术领域

本发明属于JTAG器件技术领域，具体涉及一种JTAG调试方法、调试器及系统。

背景技术

JTAG(Joint Test Action Group，联合测试行动组)是一种国际标准测试协议(IEEE 1149.1兼容)，主要用于芯片内部测试。现今多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA、ARM、部分单片机器件等。标准的JTAG接口是4条线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。相关JTAG引脚的定义为：TCK为测试时钟输入；TDI为测试数据输入，数据通过TDI引脚输入JTAG接口；TDO为测试数据输出，数据通过TDO引脚从JTAG接口输出；TMS为测试模式选择，TMS用来设置JTAG接口处于某种特定的测试模式；TRST为测试复位，输入引脚，低电平有效。

请参见图1和图2，图1为现有技术中的JTAG调试方法的原理图，图2为现有技术中SVF文件一行数据对应的信号波形示意图；其中，现有的JTAG调试技术是通过在PC上解析SVF(Serial Vector Format,简称串行向量格式)文件生成对应的端口操作数据，并通过USB通道传输端口操作数据控制JTAG的端口电平，其中，SVF文件的一行数据对应一系列的JTAG端口操作，但是USB通道一次只能完成一个端口操作数据的传输，如图2所示的一行SVF对应的信号波形图需要26次USB通讯才能把数据发送给测试芯片，因此，造成了USB通道通讯数据量过大，限制了JTAG调试的速度。

因此，如何给出一种高速的JTAG调试方法已经成为研究的热点问题。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述问题，本发明提供了一种JTAG调试方法、调试器及系统。

本发明要解决的技术问题通过以下技术方案实现：

本发明的一个实施例提供一种JTAG调试方法，包括：

(a)接收上位机传输的SVF文件；

(b)解析所述SVF文件并生成调试信号；

(c)输出所述调试信号。

在本发明的一个实施例中，所述调试信号包括：TCK信号、TMS信号、TDI信号。

在本发明的一个实施例中，步骤(b)包括：

(b1)解析所述SVF文件并生成时序参数、JTAG状态机数据、TCK数据、TDI数据；

(b2)将所述时序参数、JTAG状态机数据、所述TCK数据、所述TDI数据转换形成时序控制信号、所述TMS信号、所述TCK信号、所述TDI信号。

在本发明的一个实施例中，步骤(c)之后还包括：

(x1)读取TDO信号并生成TDO数据；

(x2)将所述TDO数据与SVF文件的期望值进行对比产生对比结果；

(x3)输出所述对比结果和所述TDO数据。

本发明的另一个实施例提供了一种JTAG调试器，包括：

接收芯片，用于接收从上位机传输的SVF文件；

解析芯片，与所述接收芯片连接，用于解析所述SVF文件并输出调试信号。