[发明专利]测试装置及测试方法在审

专利信息
申请号: 201711276164.7 申请日: 2017-12-06
公开(公告)号: CN109884518A 公开(公告)日: 2019-06-14
发明(设计)人: 健一长谷 申请(专利权)人: 爱德万测试公司
主分类号: G01R31/3193 分类号: G01R31/3193
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 宗晓斌
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 被测试设备 测试装置 串行数据 监测对象 比特数 漂移 时间测定单元 被测试信号 比较判定部 测试 抖动 输出 检查
【权利要求书】:

1.一种测试装置,其特征在于,包括:

时间测定单元,其测定包含从被测试设备输出的串行数据的被测试信号的监测对象的边沿的时间间隔,以及

比较判定部,其从被测定的时间间隔算出上述监测对象的边沿之间所包含的串行数据的比特数,并将该比特数与其期望值进行比较。

2.如权利要求1所述的测试装置,其特征在于,

上述时间测定单元针对上述监测对象的每个边沿生成时间戳T[i];

上述比较判定部将对用上述边沿的间隔ΔTi=T[i+1]-T[i]除以理想的单位间隔后的值进行舍入后的数值作为上述串行数据的比特数。

3.如权利要求2所述的测试装置,其特征在于,

上述时间测定单元包含:

抽取处理部,其每N个上述被测试信号的边沿进行1次提取,该N为自然数,以及

时间戳生成器,其对由上述抽取处理部提取的边沿附加时间戳。

4.如权利要求3所述的测试装置,其特征在于,

上述抽取处理部包含极性选择器,该极性选择器选择正边沿和负边沿中的至少一者。

5.如权利要求3或4所述的测试装置,其特征在于,

上述抽取处理部包含:

预定标器,其每K个边沿进行1次提取,K为自然数,以及

内抽出器,其被设置于上述预定标器的后级,并每L个边沿进行1次提取,L为自然数。

6.如权利要求1~4的任何一项所述的测试装置,其特征在于,

上述比较判定部被作为DSP而安装。

7.一种包含从被测试设备输出的串行数据的被测试信号的测试方法,其特征在于,包括:

测定上述被测试信号的监测对象的边沿的时间间隔的步骤,

从被测定的时间间隔算出上述监测对象的边沿之间所包含的串行数据的比特数的步骤,以及

将被算出的上述比特数与其期望值进行比较的步骤。

8.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,

上述监测对象的边沿被每N个进行1次提取;

一边使i在1~N间发生变化一边执行将第i,i+N,i+2N,…个边沿作为监测对象的测试。

9.如权利要求7所述的测试方法,其特征在于,

上述监测对象的边沿被每N个进行1次提取,N为奇数;

一边重复输入在1个信号图形周期内包含偶数个边沿的被测试信号,一边执行将预定编号的边沿作为监测对象的测试。

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