[发明专利]一种集成电路测试数据的筛选方法及装置

说明书

本发明公开了一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，包括获取集成电路测试数据；计算各测试参数中的最大值与最小值之间的差值；计算每个测试参数的片平均值和批平均值；计算片平均值与批平均值的片相差百分比；计算各测试参数的总平均值以及批平均值与总平均值的批相差百分比；判断每个测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及批相差百分比是否大于百分比阈值；若是，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，则将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记。本发明还公开了一种集成电路测试数据的筛选装置。本发明提供集成电路测试数据的筛选方法，提高了数据筛选的效率。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，尤其涉及一种集成电路测试数据的筛选方法及一种集成电路测试数据的筛选装置。

背景技术

在集成电路日益成熟的今天，集成电路测试已经逐渐成为整条产业链中必不可少的环节。与此同时，计算机科学与技术的不断发展同样为集成电路测试提供了全方位的支持。集成电路规模的不断增大，使得所要测试的项目随之增多，同时，测试数据量也在不断增加。为了筛选出ATE测试误差较大的数据，亟需发展能够快速，准确分析集成电路测试数据的科学方法。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种集成电路测试数据的筛选方法及一种集成电路测试数据的筛选装置，以解决现有技术中的问题。

作为本发明的第一个方面，提供一种集成电路测试数据的筛选方法，其中，所述集成电路数据为多个不同测试参数组成的总数据，每片集成电路包括多个相同的电路结构，所述集成电路测试数据的筛选方法包括：

获取集成电路测试数据，所述集成电路测试数据包括多个测试参数的测试数据，每个测试参数的测试数据包括多批次集成电路测试完成后得到的数据，每批次集成电路测试数据包括多个片集成电路测试完成后得到的片集成电路测试数据，每个片集成电路测试数据包括多个电路结构测试完成后得到的子集成电路测试数据；

计算每个测试参数同批次数据的最大值与最小值之间的差值，每个所述测试参数得到一个差值；

计算每个测试参数同批次的每片集成电路测试数据的平均值，每个所述片集成电路测试数据得到一个片平均值；

计算每个测试参数同批次集成电路测试数据的平均值，每批次集成电路测数据得到一个批平均值；

计算同批次的每个片集成电路测试数据的片平均值与该测试参数的批平均值的片相差百分比，每个所述片集成电路测试数据对应一个片相差百分比；

计算所有测试参数的总平均值，每个所述测试参数对应一个总平均值；

计算每个所述测试参数的批平均值与该测试参数的总平均值的批相差百分比，每批次集成电路测试数据对应一个批相差百分比；

判断每个所述测试参数的片相差百分比是否大于百分比阈值以及每个所述测试参数的批相差百分比是否大于百分比阈值；

若所述测试参数的片相差百分比大于百分比阈值，则将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记，和/或，若所述测试参数的批相差百分比大于百分比阈值，则将该批相差百分比对应的测试批号进行标记。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该片相差百分比对应的测试参数片号进行标记后进行的：对该测试数据片号对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括在将该批相差百分比对应的测试参数批号进行标记后进行的：对该测试数据批号所对应的所有集成电路测试数据进行分析，以查找误差来源。

优选地，所述集成电路测试数据的筛选方法还包括：

若每个所述测试参数的片相差百分比不大于百分比阈值，且每个测试参数的批相差百分比不大于百分比阈值，则判定所述集成电路测试数据没有误差。