[发明专利]键盘矩阵阻抗测试装置有效
| 申请号： | 201711293131.3 | 申请日： | 2017-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN109900962B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 张荣斌 | 申请（专利权）人： | 神讯电脑（昆山）有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215300 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 键盘 矩阵 阻抗 测试 装置 | ||
1.一种键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，其包括：
测试用连接器，其一端具有插设键盘的碳带的接口，另一端具有依序排列的若干个第一引脚孔，各该第一引脚孔与所述碳带的碳带引脚一一对应连接，该若干个第一引脚孔分为对应键盘矩阵X轴的第一区域及对应键盘矩阵Y轴的第二区域；
测试用转接板，其一端与所述测试用连接器处于第二区域的各该第一引脚孔连接，另一端具有若干个依序排列的第二引脚孔，各该第二引脚孔与该第二区域的该第一引脚孔一一对应连接；
微欧姆计，具有两个探针，各探针分别插入与欲测键帽的二维坐标对应的所述第一引脚孔及第二引脚孔。
2.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，该第一区域内的各该第一引脚孔具有坐标标识。
3.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，该第二区域上的各该第一引脚孔具有坐标标识。
4.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，所述第一引脚孔为铜箔孔。
5.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，所述第二引脚孔为铜箔孔。
6.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，该第二引脚孔具有坐标标识。
7.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，所述测试用连接器与所述测试用转接板垂直放置。
8.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，所述测试用连接器与所述测试用转接板并排放置。
9.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，该第一区域的所述第一引脚孔的个数为16个，该第二区域的所述第一引脚孔的个数为8个。
10.如权利要求1所述的键盘矩阵阻抗测试装置，其特征在于，所述第一引脚孔及第二引脚孔的孔径皆大于1毫米。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于神讯电脑（昆山）有限公司，未经神讯电脑（昆山）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201711293131.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
